Vakuum Prüfadapter VA 2070S/i3070-5 Artikel 4844-KIT
- Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
- Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
- Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
- Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
- 1- und 2-Stufen-Varianten
- 1- und 2-Stufen-Varianten
- Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070S/i3070-5 Artikel 4844-KIT
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Technische Daten
| Produktgruppe : | Vakuum Prüfadapter (VA) |
|---|---|
| Hauptserie : | VA xxxx |
| Unterserie : | VA 20xx |
| Baureihe : | VA 2070 |
| Baugröße : | xx70 |
| Prüfadaptertyp : | Einzeladapter |
| Kontakthuberzeugung : | vakuum |
| Schnittstellen-Signale max. : | 3666 |
| Schnittstellenblöcke benötigt : | nein |
| Kontaktierungsrichtung : | einseitig (unten) |
| Kontaktkraft max. : | 11000 N |
| Paralleler Kontakthub ca. : | 7 mm |
| Prüflingslage (Reihe-Spalte) : | 1,5/22,5 - 00/78 |
| Testsystem-Schnittstelle : | Keysight i3070-5 |
| Gewicht : | 12 kg |
| Temperatur min. : | + 10 °C |
| Temperatur max. : | + 60 °C |
| Niederspannung : | nein |
| ESD-konform : | nein |
| RoHS-konform : | RoHS-3;6a;6c |
| Einbauhöhe Kontaktstift unten : | 16 mm |
|---|---|
| Ausführung Standard : | ja |
| Nutzfläche Standard (BxT) : | 305 x 380 mm |
| Ausführung ESD : | nein |
| Ausführung Hochfrequenz : | nein |
| Ausführung Starrnadel : | nein |
| Ausführung 2-Stufen : | nein |
| Zusatzkontaktierung oben (ZSK) : | ja, mit passender Zusatzoption |
| Außenmaße geschlossen (BxTxH) : | 465 x 460 x 100 mm |
Markiereinheiten
INGUN SELECTION
Markiereinheit
ME-E-R2,0-12-100-K12V
Artikel 24456
- Kompakte, robuste Bauweise
- Präzise, stufenlose Positionierbarkeit
- Dauerhafte Markierung unterschiedlicher Werkstoffe
- Herausragende Lebensdauer mit hoher Verschleißfestigkeit und Verschleißbeständigkeit
- Elektrischer Antrieb
Markiereinheit
ME-E-R2,0-12-080-S12V
Artikel 38371
- Kompakte, robuste Bauweise
- Präzise, stufenlose Positionierbarkeit
- Dauerhafte Markierung unterschiedlicher Werkstoffe
- Herausragende Lebensdauer mit hoher Verschleißfestigkeit und Verschleißbeständigkeit
- Elektrischer Antrieb
Markiereinheit
ME-P-F1,0-16-054-QS4
Artikel 29483
- Kompakte, robuste Bauweise
- Präzise, stufenlose Positionierbarkeit
- Dauerhafte Markierung unterschiedlicher Werkstoffe
- Herausragende Lebensdauer mit hoher Verschleißfestigkeit und Verschleißbeständigkeit
- Pneumatischer Antrieb
INGUN SELECTION
Markiereinheit
ME-E-R2,0-12-060-K12V
Artikel 24447
- Kompakte, robuste Bauweise
- Präzise, stufenlose Positionierbarkeit
- Dauerhafte Markierung unterschiedlicher Werkstoffe
- Herausragende Lebensdauer mit hoher Verschleißfestigkeit und Verschleißbeständigkeit
- Elektrischer Antrieb
INGUN SELECTION
Markiereinheit
ME-P-S2,0-16-054-QS4
Artikel 25241
- Kompakte, robuste Bauweise
- Präzise, stufenlose Positionierbarkeit
- Dauerhafte Markierung unterschiedlicher Werkstoffe
- Herausragende Lebensdauer mit hoher Verschleißfestigkeit und Verschleißbeständigkeit
- Pneumatischer Antrieb
Markiereinheit
ME-E-S2,0-12-060-K12V
Artikel 25251
- Kompakte, robuste Bauweise
- Präzise, stufenlose Positionierbarkeit
- Dauerhafte Markierung unterschiedlicher Werkstoffe
- Herausragende Lebensdauer mit hoher Verschleißfestigkeit und Verschleißbeständigkeit
- Elektrischer Antrieb
INGUN SELECTION
Markiereinheit
ME-E-R2,0-08-053-2S-BL6V-42V
Artikel 107376
- Kurze, kompakte Bauweise
- Markierkopf mit Doppel-Ritzstichel
- Präzise, stufenlose Positionierbarkeit
- Schnell wechselbare Graviereinheit
- Betriebsspannung von 6 V bis 42 V
- Dauerhafte Markierung unterschiedlicher Werkstoffe
- Herausragende Lebensdauer mit hoher Verschleißfestigkeit und Verschleißbeständigkeit
- Typische Abzugskraft aus Kontakthülse: 3 N bis 9,5 N
Zubehör
nanoVTEP Connector-Test
OTC-KS-NV-SP-155-013
Artikel 108706
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
nanoVTEP SensorPlate 1.2 inch
OTC-KS-NV-SP-031-031
Artikel 108704
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
Vorzentrierung
VZ-R-12-19-K
Artikel 20616
- Bewährte Vorzentrierung zur Positionierung der Leiterplatte auf dem Nadelbett
- Einfache, schnelle Montage auf der Andruckplatte
Vorzentrierung
VZ-R-06-13-K
Artikel 25519
- Bewährte Vorzentrierung zur Positionierung der Leiterplatte auf dem Nadelbett
- Einfache, schnelle Montage auf der Andruckplatte
Führungsstift
FUS-08-24-38-ST-F-M4
Artikel 2230
- Hochpräziser Führungsstift
- Präzise, reibungsarme Kontaktierung
- Zentriergenauigkeit von +/- 0,075 mm in Kombination mit Führungsbuchse #2196
- Schnelle, einfache Montage
Abfrage aufgelegt
FB-ABF-A-S-GKS-2
Artikel 105850
- Upgrade-Kits zur Erhöhung des Bedienkomforts, zur Erhöhung der Prüfsicherheit und zur Reduzierung der Handlingszeiten
- Verfügbar für manuelle Prüfadapter und Austauschsätze
- Große Auswahl an unterschiedlichen Funktionen
nanoVTEP SensorPlate 2.5 inch
OTU-KS-NV-065-065
Artikel 109705
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
Prüflingsauflage
PAS-02,8-04,0
Artikel 32995
- Bewährter Kunststoffstempel zur Auflage der Leiterplatte
- Robuste, druckstabile, 100.000-fach bewährte Ausführung
Schnittstelle
SST-PYLON-16
Artikel 111175
- Robuste Bauweise für hohe Stabilität mit geringer Durchbiegung bei Vollbestückung
- Zentrierung über gehärtete Bohrbuchsen für beste Treffergenauigkeit mit hoher Kontaktqualität
- Schwimmende Aufhängung am Prüfadapter für optimale Ausrichtung und Zentrierung am Receiver
- Hohe Flexibilität und Modularität bei der Signalübertragung mit Schnittstellenblöcken
Elektrischer Hubzähler
EHZ-08-R-49-OM
Artikel 11224
- Kompakter Einbauzähler
- 7-Segment LCD Anzeige
- Integrierte Batterie
- Manueller Reset
- Zählfrequenz: 30 Hz oder 1 kHz
- Einbaumaße (BxTxH): 44,8 x 48,5 x 22 mm
nanoVTEP SingleProbe 0.4 inch
OTC-KS-NV-SP-010-010
Artikel 108703
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
nanoVTEP Amplifier
OTC-KS-NV-EP
Artikel 108707
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
Vakuumdichtung
VD-Z-19-XXX-XXX-2
Artikel 46795
- VA-freie-Zone-Dichtung mit variablen Außenmaßen
- Passend für VA 20xx 2-Stufen Prüfadapter
nanoVTEP Test probe
OTC-KS-NV-GKS
Artikel 111606
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
INGUN SELECTION
Vorzentrierung
VZ-R-12-22-K-ESD
Artikel 23056
- Bewährte Vorzentrierung zur Positionierung der Leiterplatte auf dem Nadelbett
- Einfache, schnelle Montage auf der Andruckplatte
nanoVTEP ConnectCheck Signal C
OTE-KS-NV-064-MUX-REF
Artikel 108711
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
- 2x 64 Kontakte, zum Anschluss von bis zu 64 nanoVTEP Prüfsonden
nanoVTEP Signal Conditioner B.
OTE-KS-NV-064-MUX
Artikel 108710
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
- 2x 64 Kontakte, zum Anschluss von bis zu 64 nanoVTEP Prüfsonden
Vorzentrierung
VZ-R-12-42-K-ESD
Artikel 44253
- Bewährte Vorzentrierung zur Positionierung der Leiterplatte auf dem Nadelbett
- Einfache, schnelle Montage auf der Andruckplatte
INGUN SELECTION
Vorzentrierung
VZ-R-12-22-K
Artikel 13781
- Bewährte Vorzentrierung zur Positionierung der Leiterplatte auf dem Nadelbett
- Einfache, schnelle Montage auf der Andruckplatte
Vorzentrierung
VZ-R-08-41-M-X
Artikel 2519
- Bewährte Vorzentrierung zur Positionierung der Leiterplatte auf dem Nadelbett
- Einfache, schnelle Montage auf der Andruckplatte
Abfrage kontaktiert
FB-ABF-K-HMK-VAxxxx
Artikel 3408-KIT
- Abfrage Leiterplatte kontaktiert
- Prozesssichere Statusabfrage
- Einfache, schnelle Montage
Prüflingsauflage
PAS-05,8-03,0-FR4
Artikel 17806
- Bewährte Kunststoffstempel zur Auflage der Leiterplatte
- Robuste, druckstabile, 100.000-fach bewährte Ausführung
- Typ. Ableitwiderstand von 10^6 bis 10^9 Ohm
- Geeignet zur Verwendung in ESD-Schutzzonen (EPA) aufgrund geringer elektrostatischer Aufladung
Druckfeder
FED-10,0-16,0-97N-09,0
Artikel 1571
- Bewährte Druckfedern, passend für alle Prüfadapter, Austauschsätze und Wechselsätze
- Höchste Federstahlqualität für maximale Bruchsicherheit
- Unterschiedliche Durchmesser
- Unterschiedliche Federkräfte
nanoVTEP SingleProbe 0.16 inch
OTC-KS-NV-SP-004-004
Artikel 108701
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
nanoVTEP SingleProbe B/C Size
OTC-KS-NV-SP-007-004
Artikel 108702
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
INGUN SELECTION
Prüflingsauflage
PAS-02,8-05,0
Artikel 3161
- Bewährte Kunststoffstempel zur Auflage der Leiterplatte
- Robuste, druckstabile, 100.000-fach bewährte Ausführung
- Typ. Ableitwiderstand von 10^6 bis 10^9 Ohm
- Geeignet zur Verwendung in ESD-Schutzzonen (EPA) aufgrund geringer elektrostatischer Aufladung
nanoVTEP SensorPlate 2.5 inch
OTC-KS-NV-SP-065-065
Artikel 108705
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
Elektrischer Hubzähler
EHZ-08-R-32-HE
Artikel 34865
- Kompakter Einbauzähler
- 8-Segment LCD Anzeige
- Integrierte Batterie
- Manueller Reset
- Zählfrequenz: 30 Hz
- Einbaumaße (BxTxH): 44,8 x 31,2 x 22 mm
FrameScanPlus Amplifier
OTC-TD-FS-EP-GKS
Artikel 14762
- Bewährte Komponenten für den Opens-Test zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Passend für Keysight- (TestJet, VTEP), Teradyne- (FrameScan) und Spea- (Escan) -Testsysteme
- Einfache, schnelle Montage
Vorzentrierung
VZ-R-08-26-M-X
Artikel 2518
- Bewährte Vorzentrierung zur Positionierung der Leiterplatte auf dem Nadelbett
- Einfache, schnelle Montage auf der Andruckplatte
ESD-Ableitstift
FB-ALS-VAxxxx
Artikel 4137
- Prozesssichere Ableitung auftretender elektrostatischer Entladungen, als Folge von Potentialdifferenzen
- Schnelle, einfache Montage
Schnittstelle
SST-GR2270/71
Artikel 109715
- Robuste Bauweise für hohe Stabilität mit geringer Durchbiegung bei Vollbestückung
- Zentrierung über gehärtete Bohrbuchsen für beste Treffergenauigkeit mit hoher Kontaktqualität
- Schwimmende Aufhängung am Prüfadapter für optimale Ausrichtung und Zentrierung am Receiver
- Hohe Flexibilität und Modularität bei der Signalübertragung mit Schnittstellenblöcken
- Für Pylon-Receiver mit Führungsstift D = 10,3 mm
Schnittstelle
SST-PYLON-12
Artikel 109145
- Robuste Bauweise für hohe Stabilität mit geringer Durchbiegung bei Vollbestückung
- Zentrierung über gehärtete Bohrbuchsen für beste Treffergenauigkeit mit hoher Kontaktqualität
- Schwimmende Aufhängung am Prüfadapter für optimale Ausrichtung und Zentrierung am Receiver
- Hohe Flexibilität und Modularität bei der Signalübertragung mit Schnittstellenblöcken
- Für Pylon-Receiver mit Führungsstift D = 9,5 mm
nanoVTEP Connector-Test
OTU-KS-NV-155-013
Artikel 109706
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
FrameScanPlus 0.375×0.475 inch
OTC-TD-FS-SP-013-010
Artikel 14763
- Bewährte Komponenten für den Opens-Test zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Passend für Keysight- (TestJet, VTEP), Teradyne- (FrameScan) und Spea- (Escan) -Testsysteme
- Einfache, schnelle Montage
FrameScanFX2.0 Amplifier
OTC-TD-FX-EP
Artikel 26486
- Bewährte Komponenten für den Opens-Test zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Passend für Keysight- (TestJet, VTEP), Teradyne- (FrameScan) und Spea- (Escan) -Testsysteme
- Einfache, schnelle Montage
Personality Pin
PP-INGUN-F
Artikel 45000
- Bewährte Personality-Pins zur Bestückung von Prüfadaptern mit Keysight-Testsystem-Schnittstelle
- Flacher Kopf, Wire-Wrap-Pfosten komplett vergoldet
- Typisches Raster von 3,81 mm (2,5 Zoll)
- Zuverlässig über viele Kontaktzyklen und korrosionsbeständig über viele Jahre
Vakuumdichtung
VD-Z-15-XXX-XXX
Artikel 46794
- VA-freie-Zone-Dichtung mit variablen Außenmaßen
- Passend für VA 20xx 1-Stufen Prüfadapter
Vorzentrierung
VZ-R-12-50-K
Artikel 46758
- Bewährte Vorzentrierung zur Positionierung der Leiterplatte auf dem Nadelbett
- Einfache, schnelle Montage auf der Andruckplatte
INGUN SELECTION
Prüflingsauflage
PAS-02,8-03,0
Artikel 17990
- Bewährte Kunststoffstempel zur Auflage der Leiterplatte
- Robuste, druckstabile, 100.000-fach bewährte Ausführung
- Typ. Ableitwiderstand von 10^6 bis 10^9 Ohm
- Geeignet zur Verwendung in ESD-Schutzzonen (EPA) aufgrund geringer elektrostatischer Aufladung
Vorzentrierung
VZ-R-12-28-K
Artikel 19462
- Bewährte Vorzentrierung zur Positionierung der Leiterplatte auf dem Nadelbett
- Einfache, schnelle Montage auf der Andruckplatte
nanoVTEP SensorPlate 1.2 inch
OTU-KS-NV-031-031
Artikel 109704
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
INGUN SELECTION
Vorzentrierung
VZ-R-10-13-K
Artikel 21628
- Bewährte Vorzentrierung zur Positionierung der Leiterplatte auf dem Nadelbett
- Einfache, schnelle Montage auf der Andruckplatte
INGUN SELECTION
Vorzentrierung
VZ-R-12-22-K-X
Artikel 42295
- Bewährte Vorzentrierung zur Positionierung der Leiterplatte auf dem Nadelbett
- Einfache, schnelle Montage auf der Andruckplatte
Vorzentrierung
VZ-R-12-35-K
Artikel 50021
- Bewährte Vorzentrierung zur Positionierung der Leiterplatte auf dem Nadelbett
- Einfache, schnelle Montage auf der Andruckplatte
Seitenanfahrmechanik
Seitenanfahrmechanik
SAM-M-14-300N-202-145
Artikel 12306
- Prozesssichere seitliche Kontaktierung
- Stabile, wartungsfreie Präzisionsführung
- Platzsparende, einfache und präzise Montage
- Manuelle Betätigung
Seitenanfahrmechanik
SAM-H7-20-150N-020-077
Artikel 106220
- Prozesssichere seitliche Kontaktierung
- Kompakte, robuste Ausführung
- Stabile, wartungsfreie Präzisionsführung
- Platzsparende, einfache und präzise Montage
- Hubgesteuerte Betätigung
- Kontaktiervorgang erfolgt gleichzeitig mit der Leiterplattenkontaktierung
INGUN SELECTION
Seitenanfahrmechanik
SAM-H7-16-150N-020-060-S
Artikel 45680
- Prozesssichere seitliche Kontaktierung
- Kompakte, robuste Ausführung
- Stabile, wartungsfreie Präzisionsführung
- Platzsparende, einfache und präzise Montage
- Hubgesteuerte Betätigung
- Kontaktiervorgang erfolgt gleichzeitig mit der Leiterplattenkontaktierung
Seitenanfahrmechanik
SAM-P-50-068N-082-105
Artikel 50140
- Prozesssichere seitliche Kontaktierung
- Stabile, wartungsfreie Präzisionsführung
- Platzsparende, einfache und präzise Montage
- Pneumatische Betätigung
Seitenanfahrmechanik
SAM-M-14-300N-268-145
Artikel 12559
- Prozesssichere seitliche Kontaktierung
- Stabile, wartungsfreie Präzisionsführung
- Platzsparende, einfache und präzise Montage
- Manuelle Betätigung
Seitenanfahrmechanik
SAM-M-20-150N-070-063
Artikel 41070
- Prozesssichere seitliche Kontaktierung
- Kompakte, robuste Ausführung
- Stabile, wartungsfreie Präzisionsführung
- Platzsparende, einfache und präzise Montage
- Manuelle Betätigung