Vorzentrierung VZ-R-08-26-M-X Artikel 2518

Bewährte Vorzentrierung zur Positionierung der Leiterplatte auf dem Nadelbett
Einfache, schnelle Montage auf der Andruckplatte

Vorzentrierung VZ-R-08-26-M-X Artikel 2518

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VZ-R-08-26-M-X (2518)

VZ-R-12-22-K-ESD (23056) INGUN SELECTION VZ-R-8-22-M-X-M2 (2517) VZ-R-06-13-K (25519) VZ-R-12-22-K-X (42295) INGUN SELECTION VZ-R-12-42-K-ESD (44253) VZ-R-12-28-K (19462) VZ-R-10-13-K (21628) INGUN SELECTION VZ-R-08-26-M-X (2518) VZ-R-12-19-K (20616) VZ-R-12-22-K (13781) INGUN SELECTION VZ-R-12-50-K (46758) VZ-R-12-35-K (50021) VZ-R-08-41-M-X (2519) VZ-R-06-13-M (42357)

Hier können Sie optional eine neue Variante konfigurieren:

Technische Daten

Allgemeine Daten
Produktgruppe :	Vorzentrierungen
Baureihe :	VZ
Typ :	VZ, rund, exzentrisch
Ausführung :	Nicht ESD
Zubehörtyp :	Ausbauzubehör
Werkstoff :	1.0037, verzinkt
Farbe :	Silber
Gewicht :	0.01 kg
Temperatur min. :	+ 10 °C
Temperatur max. :	+ 60 °C
RoHS-konform :	RoHS-3

Technische Daten
Montage :	Zapfen M4
Länge :	26 mm
Durchmesser :	8 mm

Passend für
Austauschsätze Ausführung :	keine Einschränkungen
Manuelle Prüfadapter (MA) :	MA 2009, MA 2011, MA 2012, MA 2013, MA 2013T, MA 2014
Vakuum-Prüfadapter (VA) :	VA xxxx
Austauschsätze MA (ATS MA) :	ATS MAxx, ATS MAxxx
Austauschsätze VA (ATS VA) :	ATS VINxxx
Austauschsätze PA (ATS PA) :	ATS PAZxxx, ATS PAxxxx
Wechselsätze WS :	WS
Für 2-Stufen-Kontaktierung :	ja

Vakuum-Prüfadapter

Vakuum Prüfadapter VA 2073L/i3070-5 Artikel 8326

Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
1- und 2-Stufen-Varianten
Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)

Details zum Produkt

INGUN SELECTION

Vakuum Prüfadapter VA 2070S/i3070-5 Artikel 4844-KIT

Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
1- und 2-Stufen-Varianten
1- und 2-Stufen-Varianten
Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)

Details zum Produkt