nanoVTEP Connector-Test OTU-KS-NV-155-013 Artikel 109706
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- Bewährte Baugruppen für den Opens-Test zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Passend für Keysight- (TestJet, VTEP), Teradyne- (FrameScan) und Spea- (Escan) -Testsysteme
- Einfache, schnelle Montage
nanoVTEP Connector-Test OTU-KS-NV-155-013 Artikel 109706
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Technische Daten
| Produktgruppe : | Opens Tests |
|---|---|
| Baureihe : | OTU |
| Typ : | Keysight |
| Ausführung : | nanoVTEP SP Connector |
| Zubehörtyp : | Ausbauzubehör |
| Auslieferzustand : | Mit nanoVTEP Verstärker |
| Breite : | 12.8 mm |
| Höhe : | 37.8 mm |
| RoHS-konform : | RoHS-3 |
| Hub : | 2 mm |
|---|---|
| Länge : | 155 mm |
| Außenmaße (BxTxH) : | 155.0 x 12.8 x 37.8 mm |
| Vakuum-Prüfadapter (VA) : | VA 2070 |
|---|---|
| Wechselsätze WS : | WS Keysight/i3070-5i |
Vakuum-Prüfadapter
Vakuum Prüfadapter
VA 2070S/i3070-5
Artikel 4844-KIT
- Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
- Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
- Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
- Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
- 1- und 2-Stufen-Varianten
- 1- und 2-Stufen-Varianten
- Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)