Beim In-Circuit-Test (ICT) werden alle einzelnen Bauteile einer Baugruppe vermessen. Dabei werden fehlerhafte Bauteile erkannt und gegebenenfalls ausgetauscht. Der Funktionstest (FCT) überprüft die vorgesehene 100-Prozent-Funktion einer Baugruppe. Entsprechend dem späteren Einsatzgebiet wird die Umgebung nachgebildet und das elektrische Verhalten der Baugruppe getestet.

Zur optimalen Erfüllung der Kontaktierungsaufgabe stehen viele verschiedene Kontaktstifte zur Verfügung. Diese unterscheiden sich in Einbauhöhe, Rastermaß (möglicher Abstand Stift zu Stift), Kopfform und Anschlussart. Der elektrische Anschluss erfolgt häufig über eine Lötmulde, eine Drahtumwicklung (wire wrap) sowie mit oder ohne Kabel. Abhängig von der zu kontaktierenden Baugruppe (PCB) und den Umgebungsbedingungen bietet INGUN verschiedene Kontaktstifte an.

  1. Ebene Funktions-Test
  2. Ebene Incircuit-Test
  1. Standard Gefederter Kontaktstift - Standard-PIN und PAD-Kontaktierung
  2. Langhub Gefederter Kontaktstift - 2-Stufen-Kontaktierung
  3. Wireless Kontaktsteckhülse - Anschluss ohne Kabel
  4. Kurzer Gefederter Kontaktstift - Geringe Platzverhältnisse
  5. INGUN E-TYPE® - Kontaktierung von verschmutzten Flächen
  1. Ebene Funktions-Test
  2. Ebene Incircuit-Test
  1. Drehkontaktstift - Kontaktierung von verschmutzten Flächen
  2. Bead Probe - Kontaktierung von Beads of printed circuit board (PCB)
  3. Finepitch - Kleine Raster
  4. Metrischer Standard - Robuste Gefederte Kontaktstifte für rauen Einsatz