Beim In-Circuit-Test (ICT) werden alle einzelnen Bauteile einer Baugruppe vermessen. Dabei werden fehlerhafte Bauteile erkannt und gegebenenfalls ausgetauscht. Der Funktionstest (FCT) überprüft die vorgesehene 100-Prozent-Funktion einer Baugruppe. Entsprechend dem späteren Einsatzgebiet wird die Umgebung nachgebildet und das elektrische Verhalten der Baugruppe getestet.
Zur optimalen Erfüllung der Kontaktierungsaufgabe stehen viele verschiedene Kontaktstifte zur Verfügung. Diese unterscheiden sich in Einbauhöhe, Rastermaß (möglicher Abstand Stift zu Stift), Kopfform und Anschlussart. Der elektrische Anschluss erfolgt häufig über eine Lötmulde, eine Drahtumwicklung (wire wrap) sowie mit oder ohne Kabel. Abhängig von der zu kontaktierenden Baugruppe (PCB) und den Umgebungsbedingungen bietet INGUN verschiedene Kontaktstifte an.
- Ebene Funktions-Test
- Ebene Incircuit-Test
- Standard Gefederter Kontaktstift - Standard-PIN und PAD-Kontaktierung
- Langhub Gefederter Kontaktstift - 2-Stufen-Kontaktierung
- Wireless Kontaktsteckhülse - Anschluss ohne Kabel
- Kurzer Gefederter Kontaktstift - Geringe Platzverhältnisse
- INGUN E-TYPE® - Kontaktierung von verschmutzten Flächen
- Ebene Funktions-Test
- Ebene Incircuit-Test
- Drehkontaktstift - Kontaktierung von verschmutzten Flächen
- Bead Probe - Kontaktierung von Beads of printed circuit board (PCB)
- Finepitch - Kleine Raster
- Metrischer Standard - Robuste Gefederte Kontaktstifte für rauen Einsatz
Standard-GKS
Standard GKS ohne Kragen haben sich millionenfach bewährt für ICT und FCT. Abhängig vom Arbeitshub des Prüfadapters bzw. der zu kontaktierenden Bauteile und Prüfpunkte sind unterschiedliche Einbauhöhen nötig. Diese werden durch die Kombination von Kontaktstift und Kontaktsteckhülse erreicht. Nur so kann der optimale Arbeitshub mit Nennfederkraft realisiert werden.
Langhub-GKS
Neben der Ausführung mit Standard-Arbeitshub (4,3 mm) gibt es GKS mit langem Arbeitshub (9,3 mm), die in einem 2-Stufen-Adapter eine Kombination von ICT und FCT erlauben. Gegebenenfalls werden die Signale mit Wireless-Kontaktsteckhülsen über einen gefederten Kolben auf eine Transfer-PCB übertragen; dadurch entfällt die Verkabelung.
Kurze und robuste GKS
Kurze und robuste GKS zeichnen sich durch ein robustes und kompaktes Design aus. Damit sind diese GKS für raue ICT-/FCT-Anwendungen mit geringen Platzverhältnissen als auch in größeren Rastern geeignet.
INGUN E-TYPE®
Kontaktstifte der Marke INGUN E-TYPE® besitzen eine höhere Vorspannung als Standard-GKS. Diese anfänglich höhere Federkraft garantiert beim Testvorgang eine sichere Kontaktierung bei final gleicher Belastung, d.h. gleicher Federkraft im Arbeitshub wie bei Standard-GKS.
Drehkontaktstifte
Bei auftretenden Kontaktproblemen können Drehkontaktstifte eine sichere Alternative darstellen. Über eine Drehbewegung während des Hubvorgangs wird die zu kontaktierende Fläche angekratzt – isolierende Schichten wie starke Verunreinigungen oder eloxiertes Aluminium werden so sicher durchdrungen.
Bead Probe GKS
Sogenannte Bead Probe GKS werden zur Kontaktierung von Beads (Lötperlen) auf Leiterplatten verwendet. Dabei stehen verschiedene Kopfformen zur Verfügung, um Beads je nach Geometrie, Zusammensetzung und Oberfläche optimal prüfen zu können.
Finepitch GKS
Mit Finepitch GKS können Prüfpunkte in einem kleinen Raster kontaktiert werden. Teilweise werden diese ohne Kontaktsteckhülse verbaut.
Metrische GKS
Metrische GKS (GKS nach metrischem Standard) ergänzen klassische ICT/FCT-Kontaktstifte ohne Kragen. Sie zeichnen sich durch hohe Stabilität und Robustheit aus und weisen alle einen ausgeprägten Kragen auf.
INGUN S-Line
Die Socketless Serie ermöglicht das Testen ohne Kontaktsteckhülse. Dadurch verfügen die S-Line Kontaktstifte über einen größeren Durchmesser im bekannten Raster und sind mechanisch stabiler.
- Millionenfach bewährte Kontaktstifte zur Kontaktierung von PCBs
- Für einen optimalen Kontakt an den Prüfpunkten (z.B. PADs, VIAs, und PINs) stehen verschiedene Kopfformen in unterschiedlichen Durchmessern und Veredelungen zur Auswahl.
- Diverse Federkräfte verfügbar sowie Varianten mit Edelstahlfeder für hohe Temperaturen
- Zur Einstellung der optimalen Hubverhältnisse im Prüfadapter können durch Kombination von Kontaktstift und Kontaktsteckhülse unterschiedliche Einbauhöhen realisiert werden
- Robuste und stabile Kontaktstifte mit ausgeprägtem Kragen (Anschlag) an der Stifthülse
- Optimale Einstellung der Hubverhältnisse im Prüfadapter: Der Kragen (E-Maß) ist in unterschiedlichen Höhen lieferbar, was in Kombination mit den Kontaktsteckhülsen eine maximale Flexibilität der Einbauhöhe zulässt
- Varianten mit Edelstahlfeder für Temperaturen von -100 °C bis +200 °C verfügbar
- Millionenfach bewährte Kontaktstifte zur Kontaktierung von PCBs
- Für einen optimalen Kontakt an den Prüfpunkten (z.B. PADs, VIAs, und PINs) stehen verschiedene Kopfformen in unterschiedlichen Durchmessern und Veredelungen zur Auswahl.
- Diverse Federkräfte verfügbar sowie Varianten mit Edelstahlfeder für hohe Temperaturen
- Zur Einstellung der optimalen Hubverhältnisse im Prüfadapter können durch Kombination von Kontaktstift und Kontaktsteckhülse unterschiedliche Einbauhöhen realisiert werden
- Robustes und kompaktes Design für raue ICT-/FCT-Anwendungen mit geringen Platzverhältnissen
- Für einen optimalen Kontakt an den Prüfpunkten (z.B. PADs, VIAs, und PINs) stehen verschiedene Kopfformen in unterschiedlichen Durchmessern und Veredelungen zur Auswahl. Ebenso diverse Federkräfte.
- Millionenfach bewährte Kontaktstifte zur Kontaktierung von PCBs
- Für einen optimalen Kontakt an den Prüfpunkten (z.B. PADs, VIAs, und PINs) stehen verschiedene Kopfformen in unterschiedlichen Durchmessern und Veredelungen zur Auswahl.
- Diverse Federkräfte verfügbar sowie Varianten mit Edelstahlfeder für hohe Temperaturen
- Zur Einstellung der optimalen Hubverhältnisse im Prüfadapter können durch Kombination von Kontaktstift und Kontaktsteckhülse unterschiedliche Einbauhöhen realisiert werden
- Robustes und kompaktes Design für raue ICT-/FCT-Anwendungen mit geringen Platzverhältnissen
- Für einen optimalen Kontakt an den Prüfpunkten (z.B. PADs, VIAs, und PINs) stehen verschiedene Kopfformen in unterschiedlichen Durchmessern und Veredelungen zur Auswahl. Ebenso diverse Federkräfte.
- Langhub-Kontaktstift zur Durchführung von kombiniertem ICT- und FCT in einem 2-Stufen-Adapter
- Für einen optimalen Kontakt an den Prüfpunkten (z.B. PADs, VIAs, und PINs) stehen verschiedene Kopfformen in unterschiedlichen Durchmessern und Veredelungen zur Auswahl. Ebenso diverse Federkräfte.
- Zur Einstellung der optimalen Hubverhältnisse im Prüfadapter können durch Kombination von Kontaktstift und Kontaktsteckhülse unterschiedliche Einbauhöhen realisiert werden