nanoVTEP SensorPlate 1.2 inch OTC-KS-NV-SP-031-031 Artikel 108704

  • Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
  • Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
  • Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
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nanoVTEP SensorPlate 1.2 inch OTC-KS-NV-SP-031-031 Artikel 108704

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RoHS-Konformitätsbestätigung (DE|PDF)
Dokument (108704__Kundenzeichnung.PDF)
CAD-Daten (INGUN_108704.STEP)
Produktdatenblatt (DE|pdf)
Dokument (INFO_4250.PDF)
Dokument (Keysight-nanoVTEP_XReferenz_DE_EN_2.0.pdf)
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OTC-KS-NV-SP-031-031 (108704)
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Hier können Sie optional eine neue Variante konfigurieren:
Technische Daten
Allgemeine Daten
Produktgruppe : Opens Tests
Baureihe : OTC
Typ : Keysight Vectorless Test
Ausführung : nanoVTEP SP 1.2 inch
Zubehörtyp : Ausbauzubehör
Auslieferzustand : Ohne nanoVTEP Verstärker
Breite : 31.8 mm
Höhe : 3.7 mm
Temperatur min. : + 10 °C
Temperatur max. : + 60 °C
RoHS-konform : RoHS-3
Technische Daten
Länge : 31.8 mm
Außenmaße (BxTxH) : 31.8 x 31.8 x 3.7 mm
Passend für
Vakuum-Prüfadapter (VA) : VA 3070S/L, VA 2070S/L
Wechselsätze WS : WS Keysight

Vakuum-Prüfadapter

INGUN SELECTION VA 2070S/i3070-5
Vakuum Prüfadapter VA 2070S/i3070-5 Artikel 4844-KIT
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Details zum Produkt