nanoVTEP ConnectCheck Signal C OTE-KS-NV-064-MUX-REF Artikel 108711

  • Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
  • Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
  • Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
  • 2x 64 Kontakte, zum Anschluss von bis zu 64 nanoVTEP Prüfsonden
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nanoVTEP ConnectCheck Signal C OTE-KS-NV-064-MUX-REF Artikel 108711

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Downloads
RoHS-Konformitätsbestätigung (DE|PDF)
CAD-Daten (INGUN_108711.STEP)
Produktdatenblatt (DE|pdf)
Dokument (108711__Kundenzeichnung.PDF)
Dokument (INFO_4250.PDF)
Dokument (Keysight-nanoVTEP_XReferenz_DE_EN_2.0.pdf)
Direktauswahl
OTE-KS-NV-064-MUX-REF (108711)
OTE-SP-ES-016-MUX (32627) OTE-KS-NV-064-MUX (108710) OTE-KS-NV-064-MUX-REF (108711)
Hier können Sie optional eine neue Variante konfigurieren:
Technische Daten
Allgemeine Daten
Produktgruppe : Opens Tests
Baureihe : OTE
Typ : Keysight Vectorless Test
Ausführung : nanoVTEP ConnectCheck Signal C
Zubehörtyp : Ausbauzubehör
Breite : 35.8 mm
Höhe : 17.4 mm
Temperatur min. : + 10 °C
Temperatur max. : + 60 °C
RoHS-konform : RoHS-3
Technische Daten
Montage : Gewinde M3
Anzahl Pole : 2x 64
Länge : 230 mm
Außenmaße (BxTxH) : 230.0 x 35.8 x 17.4 mm
Passend für
Vakuum-Prüfadapter (VA) : VA 3070S/L, VA 2070S/L
Wechselsätze WS : WS Keysight