nanoVTEP ConnectCheck Signal C OTE-KS-NV-064-MUX-REF Artikel 108711
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
- 2x 64 Kontakte, zum Anschluss von bis zu 64 nanoVTEP Prüfsonden
nanoVTEP ConnectCheck Signal C OTE-KS-NV-064-MUX-REF Artikel 108711
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OTE-KS-NV-064-MUX-REF (108711)
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Technische Daten
| Produktgruppe : | Opens Tests |
|---|---|
| Baureihe : | OTE |
| Typ : | Keysight Vectorless Test |
| Ausführung : | nanoVTEP ConnectCheck Signal C |
| Zubehörtyp : | Ausbauzubehör |
| Breite : | 35.8 mm |
| Höhe : | 17.4 mm |
| Temperatur min. : | + 10 °C |
| Temperatur max. : | + 60 °C |
| RoHS-konform : | RoHS-3 |
| Montage : | Gewinde M3 |
|---|---|
| Anzahl Pole : | 2x 64 |
| Länge : | 230 mm |
| Außenmaße (BxTxH) : | 230.0 x 35.8 x 17.4 mm |
| Vakuum-Prüfadapter (VA) : | VA 3070S/L, VA 2070S/L |
|---|---|
| Wechselsätze WS : | WS Keysight |
Vakuum-Prüfadapter
INGUN SELECTION
Vakuum Prüfadapter
VA 2070S/i3070-5
Artikel 4844-KIT
- Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
- Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
- Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
- Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
- 1- und 2-Stufen-Varianten
- 1- und 2-Stufen-Varianten
- Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)