nanoVTEP Signal Conditioner B. OTE-KS-NV-064-MUX Artikel 108710
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
- 2x 64 Kontakte, zum Anschluss von bis zu 64 nanoVTEP Prüfsonden
nanoVTEP Signal Conditioner B. OTE-KS-NV-064-MUX Artikel 108710
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OTE-KS-NV-064-MUX (108710)
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Technische Daten
Produktgruppe : | Opens Tests |
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Baureihe : | OTE |
Typ : | Keysight Vectorless Test |
Ausführung : | nanoVTEP Signal Conditioner B. |
Zubehörtyp : | Ausbauzubehör |
Breite : | 25.8 mm |
Höhe : | 17.4 mm |
Temperatur min. : | + 10 °C |
Temperatur max. : | + 60 °C |
RoHS-konform : | RoHS-3 |
Montage : | Gewinde M3 |
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Anzahl Pole : | 2x 64 |
Länge : | 230 mm |
Außenmaße (BxTxH) : | 230.0 x 25.8 x 17.4 mm |
Vakuum-Prüfadapter (VA) : | VA 3070S/L, VA 2070S/L |
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Wechselsätze WS : | WS Keysight |