nanoVTEP Signal Conditioner B. OTE-KS-NV-064-MUX Artikel 108710
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- Bewährte Steuerelektroniken für den Opens-Test zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Passend für Keysight- (TestJet, VTEP), Teradyne- (FrameScan) und Spea- (Escan) -Testsysteme
- Einfache, schnelle Montage
nanoVTEP Signal Conditioner B. OTE-KS-NV-064-MUX Artikel 108710
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Technische Daten
| Produktgruppe : | Opens Tests |
|---|---|
| Baureihe : | OTE |
| Typ : | Keysight |
| Ausführung : | nanoVTEP Signal Conditioner B. |
| Zubehörtyp : | Ausbauzubehör |
| Breite : | 25.8 mm |
| Höhe : | 17.4 mm |
| RoHS-konform : | RoHS-3 |
| Montage : | Gewinde M3 |
|---|---|
| Anzahl Pole : | 2x 64 |
| Länge : | 230 mm |
| Außenmaße (BxTxH) : | 230.0 x 25.8 x 17.4 mm |
| Vakuum-Prüfadapter (VA) : | VA 2070 |
|---|---|
| Wechselsätze WS : | WS Keysight/i3070-5i |
Vakuum-Prüfadapter
Vakuum Prüfadapter
VA 2070S/i3070-5
Artikel 4844-KIT
- Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
- Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
- Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
- Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
- 1- und 2-Stufen-Varianten
- 1- und 2-Stufen-Varianten
- Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)