Personality Pin PP-INGUN-F Artikel 45000

RoHS (PDF)
INGUN_PP-INGUN-F_45000_DE_Datasheet (pdf)
INGUN_45000 (STEP)
45000__Kundenzeichnung (PDF)
PP-INGUN-F (45000)
PP-INGUN-F (45000)
Technische Daten
Hier können Sie optional eine neue Variante konfigurieren:
Allgemeine Daten
Produktgruppe : Personality Pins
Baureihe : PP
Typ : Kopfform flach
Zubehörtyp : Ausbauzubehör
Technische Daten
Durchmesser Kopf : 0.63 mm
Länge : 48.6 mm
Durchmesser : 3.0 mm
Passend für
Austauschsätze Ausführung : keine Einschränkungen
Vakuum-Prüfadapter (VA) : VA 2070S, VA2073L

Vakuum-Prüfadapter

Vakuum Prüfadapter VA 2070S-2e/i3070-5 Artikel 14251
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070ST/i3070-5 Artikel 10319
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070S/VKH-P/i3070-5 Artikel 101746
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070S/ZSK-70/i3070-5 Artikel 27005
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070S/HZL/ZSK-70/i3070-5 Artikel 30685
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070S/i3070-5 Artikel 4844-KIT
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070SR/i3070-5 Artikel 4998
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2073L/HZL/i3070-5 Artikel 25517
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070S-2e/ZSK-P/SN/i3070-5 Artikel 56930
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070S/VKH/SN/i3070-5 Artikel 27779
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070S/HZL/i3070-5 Artikel 18131
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070S-2e/HZL/ZSK-P/i3070-5 Artikel 28715
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2073L-2e/i3070-5 Artikel 37737
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070S-2e/ZSK-P-2e/i3070-5 Artikel 28900
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070S/HZL/ZSK-P/i3070-5 Artikel 18843
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070S-2e/HZL/i3070-5 Artikel 18781
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070S/ZSK-P/i3070-5 Artikel 18084
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2073L/i3070-5 Artikel 8326
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070ST/ZSK-70/i3070-5 Artikel 27964
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2073L/HZL/ZSK-P/i3070-5 Artikel 25522
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)