nanoVTEP SensorPlate 2.5 inch OTU-KS-NV-065-065 Artikel 109705
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
nanoVTEP SensorPlate 2.5 inch OTU-KS-NV-065-065 Artikel 109705
Bitte melden Sie sich an, um den Preis anzuzeigen!
Anmelden
Die in der Staffel gelisteten Preise werden gerundet angezeigt, daher sind Abweichung im Gesamtpreis möglich.
Versandkosten
* Die Preise sind auf zwei Nachkommastellen gerundet.
Direktauswahl
OTU-KS-NV-065-065 (109705)
Hier können Sie optional eine neue Variante konfigurieren:
Technische Daten
| Produktgruppe : | Opens Tests |
|---|---|
| Baureihe : | OTU |
| Typ : | Keysight Vectorless Test |
| Ausführung : | nanoVTEP SP 2.5 inch |
| Zubehörtyp : | Ausbauzubehör |
| Auslieferzustand : | Inkl. nanoVTEP Verstärker, GKS |
| Breite : | 65.1 mm |
| Höhe : | 48.2 mm |
| Temperatur min. : | + 10 °C |
| Temperatur max. : | + 60 °C |
| RoHS-konform : | RoHS-3 |
| Hub : | 2 mm |
|---|---|
| Länge : | 65.1 mm |
| Außenmaße (BxTxH) : | 65.1 x 65.1 x 48.2 mm |
| Vakuum-Prüfadapter (VA) : | VA 3070S/L, VA 2070S/L |
|---|---|
| Wechselsätze WS : | WS Keysight |
Vakuum-Prüfadapter
INGUN SELECTION
Vakuum Prüfadapter
VA 2070S/i3070-5
Artikel 4844-KIT
- Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
- Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
- Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
- Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
- 1- und 2-Stufen-Varianten
- 1- und 2-Stufen-Varianten
- Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)