Führungsbuchse FUB-08-14-35-POM-BL-B Artikel 2196

Downloads
RoHS-Konformitätsbestätigung (DE|PDF)
CAD-Daten (INGUN_2196.STEP)
Produktdatenblatt (DE|pdf)
Dokument (2196__Kundenzeichnung.PDF)
Direktauswahl
FUB-08-14-35-POM-BL-B (2196) INGUN SELECTION
FUS-08-30-ST-M4 (2229) INGUN SELECTION FUB-08-14-35-POM-BL-B (2196) INGUN SELECTION FUS-08-24-38-ST-F-M4 (2230)
Hier können Sie optional eine neue Variante konfigurieren:
Technische Daten
Allgemeine Daten
Produktgruppe : Mechanisches Zubehör
Baureihe : FU
Typ : Führungsbuchse
Ausführung : Mit Bund 1 x D15 mm
Zubehörtyp : Ausbauzubehör
Werkstoff : POM
Farbe : Blau
RoHS-konform : RoHS-3
Technische Daten
Montage : Eingepresst
Länge : 35 mm
Durchmesser : 14 mm
Durchmesser Innen : 8.2 mm
Passend für
Austauschsätze Ausführung : Standard, ESD, Hochfrequenz
Vakuum-Prüfadapter (VA) : VA xxxx
Austauschsätze MA (ATS MA) : ATS MAx60, ATS MAxx
Austauschsätze VA (ATS VA) : VA xxxx

Vakuum-Prüfadapter

Vakuum Prüfadapter VA 2070S/VKH-P/i3070-5 Artikel 101746
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2073L/HZL/i3070-5 Artikel 25517
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2073L-2e/i3070-5 Artikel 37737
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070ST/i3070-5 Artikel 10319
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070S-2e/i3070-5 Artikel 14251
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070S/VKH/SN/i3070-5 Artikel 27779
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2073L/i3070-5 Artikel 8326
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070S/i3070-5 Artikel 4844-KIT
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070ST/ZSK-70/i3070-5 Artikel 27964
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Vakuum Prüfadapter VA 2070S/ZSK-70/i3070-5 Artikel 27005
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)