Vorzentrierung VZ-R-06-13-K Artikel 25519

  • Bewährte Vorzentrierung zur Positionierung der Leiterplatte auf dem Nadelbett
  • Einfache, schnelle Montage auf der Andruckplatte
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Vorzentrierung VZ-R-06-13-K Artikel 25519

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VZ-R-06-13-K (25519)
VZ-R-12-22-K-ESD (23056) INGUN SELECTION VZ-R-8-22-M-X-M2 (2517) VZ-R-06-13-K (25519) VZ-R-12-22-K-X (42295) INGUN SELECTION VZ-R-12-42-K-ESD (44253) VZ-R-12-28-K (19462) VZ-R-10-13-K (21628) INGUN SELECTION VZ-R-08-26-M-X (2518) VZ-R-12-19-K (20616) VZ-R-12-22-K (13781) INGUN SELECTION VZ-R-12-50-K (46758) VZ-R-12-35-K (50021) VZ-R-06-13-M (42357) VZ-R-08-41-M-X (2519)
Hier können Sie optional eine neue Variante konfigurieren:
Technische Daten
Allgemeine Daten
Produktgruppe : Vorzentrierungen
Baureihe : VZ
Typ : VZ, rund, zentrisch
Ausführung : Nicht ESD
Zubehörtyp : Ausbauzubehör
Werkstoff : POM
Farbe : Schwarz
Gewicht : 0.01 kg
Temperatur min. : + 10 °C
Temperatur max. : + 60 °C
RoHS-konform : RoHS-3
Technische Daten
Montage : Gewinde M3
Länge : 12.5 mm
Durchmesser : 6 mm
Passend für
Austauschsätze Ausführung : keine Einschränkungen
Manuelle Prüfadapter (MA) : MA 2009, MA 2011, MA 2012, MA 2013, MA 2013T, MA 2014
Vakuum-Prüfadapter (VA) : VA xxxx
Austauschsätze MA (ATS MA) : ATS MAxx, ATS MAxxx
Austauschsätze VA (ATS VA) : ATS VINxxx
Austauschsätze PA (ATS PA) : ATS PAZxxx, ATS PAxxxx
Wechselsätze WS : WS
Für 2-Stufen-Kontaktierung : ja

Vakuum-Prüfadapter

INGUN SELECTION VA 2070S/i3070-5
Vakuum Prüfadapter VA 2070S/i3070-5 Artikel 4844-KIT
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Details zum Produkt
VA 2073L/i3070-5
Vakuum Prüfadapter VA 2073L/i3070-5 Artikel 8326
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Einzel-Prüfadapter mit vorkonfigurierter Testsystem-Schnittstelle
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Details zum Produkt