nanoVTEP Test probe OTC-KS-NV-GKS Artikel 111606

  • Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
  • Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
  • Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
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nanoVTEP Test probe OTC-KS-NV-GKS Artikel 111606

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CAD-Daten (INGUN_111606.STEP)
Produktdatenblatt (DE|pdf)
Dokument (111606__Kundenzeichnung.PDF)
Dokument (INFO_4250.PDF)
Dokument (Keysight-nanoVTEP_XReferenz_DE_EN_2.0.pdf)
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OTC-KS-NV-GKS (111606)
OTC-SP-ES-SP-035-035 (33529) OTC-KS-NV-SP-007-004 (108702) OTC-SP-ES-EP-L600 (33514) OTC-KS-NV-SP-004-004 (108701) OTC-KS-NV-SP-031-031 (108704) OTC-SP-ES-SP-005-009 (33519) OTC-DT-OC-SP-163-102 (18747) OTC-SP-ES-EP-L300 (33512) OTC-KS-NV-KS-G2 (114374) OTC-SP-ES-SP-014-020 (33527) OTC-TD-FX-EP (26486) OTC-KS-NV-ST-G2 (114373) OTC-SP-ES-EP-L400 (33513) OTC-SP-ES-EP-L800 (33515) OTC-KS-NV-EP (108707) OTC-SP-ES-SP-006-015 (33521) OTC-KS-NV-SP-155-013 (108706) OTC-TD-FS-SP-013-010 (14763) OTC-TD-FS-EP-GKS (14762) OTC-SP-ES-SP-008-013 (33522) OTC-SP-ES-SP-010-022 (33523) OTC-KS-NV-EP-ST-KS-G2 (114385) OTC-DT-OC-SP-032-032-GKS (54772) OTC-KS-NV-GKS (111606) OTC-DT-OC-EP (18746) OTC-DT-OC-EP-GKS (54770) OTC-SP-ES-SP-010-019 (33524) OTC-KS-NV-SP-010-010 (108703) OTC-KS-NV-SP-065-065 (108705) OTC-SP-ES-SP-028-028 (33528) OTC-TD-FS-SP-015-011 (14764) OTC-SP-ES-SP-010-028 (33525) OTC-SP-ES-SP-013-019 (33526) OTC-SP-ES-SP-004-007 (33518) OTC-SP-ES-SP-006-011 (33520)
Hier können Sie optional eine neue Variante konfigurieren:
Technische Daten
Allgemeine Daten
Produktgruppe : Opens Tests
Baureihe : OTC
Typ : Keysight Vectorless Test
Ausführung : nanoVTEP GKS (QA)
Zubehörtyp : Ausbauzubehör
Temperatur min. : + 10 °C
Temperatur max. : + 60 °C
RoHS-konform : RoHS-3
Passend für
Vakuum-Prüfadapter (VA) : VA 3070S/L, VA 2070S/L
Wechselsätze WS : WS Keysight

Vakuum-Prüfadapter

INGUN SELECTION VA 2070S/i3070-5
Vakuum Prüfadapter VA 2070S/i3070-5 Artikel 4844-KIT
  • Vakuum-Prüfadapter mit parallel schließender Vakuumkassette zur Prüfung großer Leiterplattenmengen
  • Robuste, wartungsfreundliche Ausführung mit herausragender Lebensdauer
  • Verfügbar für i3070-Testsystem von Keysight
  • Erhöhter Bedienkomfort ohne nennenswerte Schließkräfte
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • 1- und 2-Stufen-Varianten
  • Detaillierte Begleitdokumente (z.B. Ausbauschema)
Details zum Produkt