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In-Circuit-Test

Beim In-Circuit-Test (ICT) werden alle einzelnen Bauteile einer Baugruppe unter anderem auf Bestückungs-, Einpress- und Lötfehler geprüft. Hierbei lassen sich Kurzschlüsse und Unterbrechungen in Leiterbahnen, defekte, falsche oder fehlende Bauteile erkennen und entsprechend austauschen. Dazu werden bereits beim Design der Elektronik-Baugruppe entsprechende Prüfpunkte eingeplant, die mit gefederten Kontaktstiften kontaktiert und gemessen werden.