PRODUKTE
Eines der drei Betätigungsfelder für den Telekommunikationsstandard 5G ist das Internet der Dinge (IoT). Bis 2026 werden Schätzungen zufolge bereits über 25 Milliarden von Geräten drahtlos miteinander vernetzt sein. Die Anwendungen sind dabei vielfältig und reichen von einfachen Temperatursensoren über Wearables wie Smartwatches bis zu AR-Brillen (Augmented Reality).
Prozesssicheres Prüfen von 5G/IoT-Anwendungen
Das Testen solcher IoT-Anwendungen bringt neue Herausforderungen mit sich. Erstens werden die Anwendungen selbst immer kleiner, was nicht selten zur Einsparung von Testpunkten auf den Leiterplatten führt. Zweitens müssen wachsende Stückzahlen in parallelen Fertigungslinien prozesssicher und vor allem störungsfrei geprüft werden. Um eine gegenseitige Beeinflussung der Prüflinge während des Testbetriebs zu vermeiden, müssen diese hochfrequenztechnisch von der Umwelt abgeschirmt werden. Dafür werden Schirmkammern verwendet, die im Inneren zusätzlich über Absorbermaterial verfügen (sogenannte Absorberkammern), um eine Mehrfachwege-Reflexion innerhalb der Kammer zu vermeiden.
Abbildung 1: Die Schirmkammer mit internem Absorbermaterial (Absorberkammer) erlaubt eine prozesssichere Kommunikation zwischen Prüfling (UUT) und Testsystem.
Prüflingsspezifischer Ausbau der Schirmkammer
Mit seinen manuellen Prüfadaptern der Serien MA 21xx und 32xx sowie den Hochfrequenz-Austauschsätzen HF-ATS bietet INGUN ein einzigartiges modulares System, das es erlaubt, die Schirmkammer entsprechend der Größe des Prüflings zu wählen und prüflingsspezifisch auszubauen. Bei der Hochfrequenz-Prüfung über die Luftschnittstelle (OTA) kann optional erhältliches Absorbermaterial entsprechend dem verwendeten Frequenzband der Anwendung ausgewählt und damit der Innenraum der HF-Kammer verkleidet werden.
Abbildung 2: Schnittansicht des Prüfadapters, bestehend aus MA Grundgerät, HF-Austauschsatz, Absorbermaterial und Prüfling mit Verbindung zum Testsystem – wahlweise über HF-Kontaktierung oder Over-the-Air (OTA).
Störungsfreie Verbindung
Für eine störungsfreie Verbindung vom Inneren der Schirmkammer zum Testsystem sorgen zudem Hochfrequenz-Schnittstellen: wahlweise für koaxiale Verbindung oder mit zusätzlichem Filter für digitale Signale wie zum Beispiel USB und Ethernet LAN.
Abbildung 3: Hochfrequenz-Schnittstellen mit integriertem Filter sorgen für eine störungsfreie Verbindung zwischen Prüfling und Testsystem.
Einzigartige Modularität
Bei einer Revision des Prüflings, die eine Neuauslegung des prüflingsspezifischen Ausbaus erfordert – oder auch einem neuen Produkt, z.B. für ein anderes Frequenzband – kann ein neuer Austauschsatz eingesetzt werden. Das Grundgerät mit dem Schließ- und Öffnungsmechanismus sowie allen elektrischen Verbindungen zum Testsystem kann ohne erneuten Eingriff weiterverwendet werden – eine zeitaufwendige und fehleranfällige Umrüstung entfällt. Weitere Informationen zu unseren manuellen Prüfadaptern mit HF-Austauschsatz erhalten Sie hier.
Abbildung 4: Das einzigartige modulare System erlaubt die Verwendung von HF-Absorberkammern auch in bereits bestehenden Testsystemen.
