Interface de test sous vide VA 2070S/i3070-5 Article 4844-KIT
- Interfaces de test sous vide avec cassette de vide fermant en parallèle, pour contrôler de grandes quantités de cartes électroniques.
- Version robuste, facile à entretenir, d'une longévité hors pair
- Disponible pour système de test i3070 de Keysight
- Confort d’utilisation accru, sans forces de fermeture notables
- Variantes à 1 et 2 niveaux
- Variantes à 1 et 2 niveaux
- Documents d’accompagnement détaillés (voir schéma d'équipement)
Interface de test sous vide VA 2070S/i3070-5 Article 4844-KIT
Merci de vous identifier pour pouvoir afficher le prix !
Se connecter
Les prix listés dans le barème sont affichés arrondis, raison pour laquelle des différences sont possibles dans le prix total.
frais de port
* Les prix sont arrondis à deux décimales.
Choisir variante
VA 2070S/i3070-5 (4844-KIT)
INGUN SELECTION
Ici, vous pouvez configurer une nouvelle variante en option :
Données techniques
| Groupe de produits : | Interface de test sous vide (VA) |
|---|---|
| Série principale : | VA xxxx |
| Sous-série : | VA 20xx |
| Série : | VA 2070 |
| Taille du type : | xx70 |
| Type d’interface de test : | Interface individuelle |
| Génération de course de contact : | vide |
| Signaux d’interface max. : | 3666 |
| Blocs d’interface requis : | non |
| Sens de mise en contact : | unilatéral (en bas) |
| Force de contact max. : | 11000 N |
| Course de contact parallèle env. : | 7 mm |
| Position de l’objet à tester (rangée-colonne) : | 1,5/22,5 - 00/78 |
| Interface pour système de test : | Keysight i3070-5 |
| Poids : | 12 kg |
| Température min. : | + 10 °C |
| Température max. : | + 60 °C |
| Basse tension : | non |
| Conformité ESD : | non |
| Conforme RoHS : | RoHS-3;6a;6c |
| Hauteur d’incorporation pointe de test en bas : | 16 mm |
|---|---|
| Version standard : | oui |
| Surface utile standard (LxP) : | 305 x 380 mm |
| Version ESD : | non |
| Version haute fréquence : | non |
| Version à aiguille rigide : | non |
| Version à 2 niveaux : | non |
| Mise en contact en haut (ZSK) : | oui, avec option supplémentaire adaptée |
| Dimensions hors tout fermé (LxPxH) : | 465 x 460 x 100 mm |
Unités de marquage
INGUN SELECTION
Unité de marquage
ME-E-R2,0-12-100-K12V
Article 24456
- Construction compacte et robuste
- Capacité de positionnement précise et progressive
- Marquage durable de différents matériaux
- Longévité hors pair assortie d’une haute résistance à l’usure et d’une grande longévité
- Entraînement électrique
Unité de marquage
ME-E-R2,0-12-080-S12V
Article 38371
- Construction compacte et robuste
- Capacité de positionnement précise et progressive
- Marquage durable de différents matériaux
- Longévité hors pair assortie d’une haute résistance à l’usure et d’une grande longévité
- Entraînement électrique
Unité de marquage
ME-P-F1,0-16-054-QS4
Article 29483
- Construction compacte et robuste
- Capacité de positionnement précise et progressive
- Marquage durable de différents matériaux
- Longévité hors pair assortie d’une haute résistance à l’usure et d’une grande longévité
- Entraînement pneumatique
INGUN SELECTION
Unité de marquage
ME-E-R2,0-12-060-K12V
Article 24447
- Construction compacte et robuste
- Capacité de positionnement précise et progressive
- Marquage durable de différents matériaux
- Longévité hors pair assortie d’une haute résistance à l’usure et d’une grande longévité
- Entraînement électrique
INGUN SELECTION
Unité de marquage
ME-P-S2,0-16-054-QS4
Article 25241
- Construction compacte et robuste
- Capacité de positionnement précise et progressive
- Marquage durable de différents matériaux
- Longévité hors pair assortie d’une haute résistance à l’usure et d’une grande longévité
- Entraînement pneumatique
Unité de marquage
ME-E-S2,0-12-060-K12V
Article 25251
- Construction compacte et robuste
- Capacité de positionnement précise et progressive
- Marquage durable de différents matériaux
- Longévité hors pair assortie d’une haute résistance à l’usure et d’une grande longévité
- Entraînement électrique
INGUN SELECTION
Unité de marquage
ME-E-R2,0-08-053-2S-BL6V-42V
Article 107376
- Construction courte et compacte
- Tête de marquage avec double burin à rayer
- Capacité de positionnement précise et progressive
- Unité à graver rapidement interchangeable
- Tension de service de 6 V à 42 V
- Marquage durable de différents matériaux
- Longévité hors pair assortie d’une haute résistance à l’usure et d’une grande longévité
- Force typique de retrait hors de la douille de contact : 3 N à 9,5 N
Accessoires
nanoVTEP Connector-Test
OTC-KS-NV-SP-155-013
Article 108706
- Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
- Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
- Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
nanoVTEP SensorPlate 1,2 pouce
OTC-KS-NV-SP-031-031
Article 108704
- Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
- Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
- Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
Précentrage
VZ-R-12-19-K
Article 20616
- Précentrage confirmé, pour positionner la carte électronique sur le lit d’aiguilles
- Montage simple et rapide sur la plaque d’applique.
Précentrage
VZ-R-06-13-K
Article 25519
- Précentrage confirmé, pour positionner la carte électronique sur le lit d’aiguilles
- Montage simple et rapide sur la plaque d’applique.
Tige de guidage
FUS-08-24-38-ST-F-M4
Article 2230
- Tige de guidage haute précision
- Mise en contact précise et à faible friction
- Précision de centrage de +/-0,075 mm si combinaison avec douille de guidage #2196
- Montage simple et rapide
Détection appliquée
FB-ABF-A-S-GKS-2
Article 105850
- Kits de mise à niveau pour hausser le confort d'utilisation, pour accroître la sécurité du contrôle et réduire les temps de manutention
- Disponible pour interfaces de test manuelle et kits de rechange
- Grand choix de fonctions différentes
nanoVTEP SensorPlate 2,5 pouces
OTU-KS-NV-065-065
Article 109705
- Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
- Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
- Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
Garniture d'applique pour objet à tester
PAS-02,8-04,0
Article 32995
- Poussoir en plastique confirmé pour l’applique de la carte électronique
- Version robuste, stable en pression, confirmée à 100 000 exemplaires
Interfaces
SST-PYLON-16
Article 111175
- Construction robuste, pour une haute stabilité, avec flexion réduite en cas de garniture complète.
- Centrage via des douilles de perçage trempées, pour une excellente précision d'entrée en contact, avec une haute qualité de contact
- Suspension flottante contre l’interface de test, pour une orientation et un centrage optimaux sur le récepteur
- Haute flexibilité et modularité dans la transmission de signaux avec des blocs d'interface.
Compteur électrique de courses
EHZ-08-R-49-OM
Article 11224
- Compteur compact incorporé
- Affichage LCD 7 segments
- Batterie intégrée
- Réinitialisation manuelle
- Fréquence de comptage : 30 Hz ou 1 kHz
- Dimensions d’installation (LxPxH) : 44,8 x 48,5 x 22 mm
nanoVTEP SingleProbe 0,4 pouce
OTC-KS-NV-SP-010-010
Article 108703
- Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
- Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
- Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
nanoVTEP Amplifier
OTC-KS-NV-EP
Article 108707
- Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
- Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
- Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
Joint de vide
VD-Z-19-XXX-XXX-2
Article 46795
- Joint à zone sans VA, de dimensions externes variables.
- Adapté aux interfaces de test VA 20xx à 2 niveaux
nanoVTEP Test probe
OTC-KS-NV-GKS
Article 111606
- Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
- Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
- Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
INGUN SELECTION
Précentrage
VZ-R-12-22-K-ESD
Article 23056
- Précentrage confirmé, pour positionner la carte électronique sur le lit d’aiguilles
- Montage simple et rapide sur la plaque d’applique.
nanoVTEP ConnectCheck Signal C
OTE-KS-NV-064-MUX-REF
Article 108711
- Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
- Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
- Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
- 2x 64 contacts, pour raccorder jusqu’à 64 sondes de test nanoVTEP
nanoVTEP Signal Conditioner B.
OTE-KS-NV-064-MUX
Article 108710
- Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
- Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
- Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
- 2x 64 contacts, pour raccorder jusqu’à 64 sondes de test nanoVTEP
Précentrage
VZ-R-12-42-K-ESD
Article 44253
- Précentrage confirmé, pour positionner la carte électronique sur le lit d’aiguilles
- Montage simple et rapide sur la plaque d’applique.
INGUN SELECTION
Précentrage
VZ-R-12-22-K
Article 13781
- Précentrage confirmé, pour positionner la carte électronique sur le lit d’aiguilles
- Montage simple et rapide sur la plaque d’applique.
Précentrage
VZ-R-08-41-M-X
Article 2519
- Précentrage confirmé, pour positionner la carte électronique sur le lit d’aiguilles
- Montage simple et rapide sur la plaque d’applique.
Détection mis en contact
FB-ABF-K-HMK-VAxxxx
Article 3408-KIT
- Abfrage Leiterplatte kontaktiert
- Prozesssichere Statusabfrage
- Montage simple et rapide
Garniture d'applique pour objet à tester
PAS-05,8-03,0-FR4
Article 17806
- Poussoirs en plastique confirmés pour l'applique de la carte électronique
- Version robuste, stable en pression, confirmée à 100 000 exemplaires
- Résistance de dérivation typique de 10^6 à 10^9 ohms
- Adapté à l’utilisation en zones protégées ESD (EPA) en raison de l'accumulation électrostatique réduite
Ressort de compression
FED-10,0-16,0-97N-09,0
Article 1571
- Ressorts de compression confirmés, adaptés à toutes les interfaces, kits de rechange et kits amovibles
- Acier de très haute qualité pour une sécurité anticassure maximale
- Diamètres différents
- Forces de ressort différentes
nanoVTEP SingleProbe 0,16 pouce
OTC-KS-NV-SP-004-004
Article 108701
- Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
- Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
- Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
nanoVTEP SingleProbe B/C pouce
OTC-KS-NV-SP-007-004
Article 108702
- Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
- Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
- Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
INGUN SELECTION
Garniture d'applique pour objet à tester
PAS-02,8-05,0
Article 3161
- Poussoirs en plastique confirmés pour l'applique de la carte électronique
- Version robuste, stable en pression, confirmée à 100 000 exemplaires
- Résistance de dérivation typique de 10^6 à 10^9 ohms
- Adapté à l’utilisation en zones protégées ESD (EPA) en raison de l'accumulation électrostatique réduite
nanoVTEP SensorPlate 2,5 pouces
OTC-KS-NV-SP-065-065
Article 108705
- Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
- Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
- Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
Compteur électrique de courses
EHZ-08-R-32-HE
Article 34865
- Compteur compact incorporé
- Affichage LCD 8 segments
- Batterie intégrée
- Réinitialisation manuelle
- Fréquence de comptage : 30 Hz
- Dimensions d’installation (LxPxH) : 44,8 x 31,2 x 22 mm
FrameScanFX2.0 amplificateur
OTC-TD-FS-EP-GKS
Article 14762
- Composants confirmés pour l'open-test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, court-circuits et défauts de soudure
- Adapté aux systèmes de test Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) et Spea (Escan)
- Montage simple et rapide
Précentrage
VZ-R-08-26-M-X
Article 2518
- Précentrage confirmé, pour positionner la carte électronique sur le lit d’aiguilles
- Montage simple et rapide sur la plaque d’applique.
Pointe d'évacuation ESD
FB-ALS-VAxxxx
Article 4137
- Évacuation sûre, durant le processus, de décharges électrostatiques survenant en conséquence de différences de potentiel.
- Montage simple et rapide
Interfaces
SST-GR2270/71
Article 109715
- Construction robuste, pour une haute stabilité, avec flexion réduite en cas de garniture complète.
- Centrage via des douilles de perçage trempées, pour une excellente précision d'entrée en contact, avec une haute qualité de contact
- Suspension flottante contre l’interface de test, pour une orientation et un centrage optimaux sur le récepteur
- Haute flexibilité et modularité dans la transmission de signaux avec des blocs d'interface.
- Pour récepteur Pylône avec pointe de guidage D = 10,3 mm
Interfaces
SST-PYLON-12
Article 109145
- Construction robuste, pour une haute stabilité, avec flexion réduite en cas de garniture complète.
- Centrage via des douilles de perçage trempées, pour une excellente précision d'entrée en contact, avec une haute qualité de contact
- Suspension flottante contre l’interface de test, pour une orientation et un centrage optimaux sur le récepteur
- Haute flexibilité et modularité dans la transmission de signaux avec des blocs d'interface.
- Pour récepteur Pylône avec pointe de guidage D = 9,5 mm
nanoVTEP Connector-Test
OTU-KS-NV-155-013
Article 109706
- Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
- Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
- Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
FrameScanPlus 0.375×0.475 pouce
OTC-TD-FS-SP-013-010
Article 14763
- Composants confirmés pour l'open-test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, court-circuits et défauts de soudure
- Adapté aux systèmes de test Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) et Spea (Escan)
- Montage simple et rapide
FrameScanFX2.0 amplificateur
OTC-TD-FX-EP
Article 26486
- Composants confirmés pour l'open-test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, court-circuits et défauts de soudure
- Adapté aux systèmes de test Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) et Spea (Escan)
- Montage simple et rapide
Personality Pin
PP-INGUN-F
Article 45000
- Broches personnalisées confirmées, pour équiper des interfaces de test avec interface de système de test Keysight.
- Tête plate, broche Wire-wrap entièrement dorée
- Trame typique de 3,81 mm (2,5 pouces)
- Fiables sur une multitude de cycles de contact et résistance à la corrosion pendant de nombreuses années
Joint de vide
VD-Z-15-XXX-XXX
Article 46794
- Joint à zone sans VA, de dimensions externes variables.
- Adapté aux interfaces de test VA 20xx à 1 niveau
Précentrage
VZ-R-12-50-K
Article 46758
- Précentrage confirmé, pour positionner la carte électronique sur le lit d’aiguilles
- Montage simple et rapide sur la plaque d’applique.
INGUN SELECTION
Garniture d'applique pour objet à tester
PAS-02,8-03,0
Article 17990
- Poussoirs en plastique confirmés pour l'applique de la carte électronique
- Version robuste, stable en pression, confirmée à 100 000 exemplaires
- Résistance de dérivation typique de 10^6 à 10^9 ohms
- Adapté à l’utilisation en zones protégées ESD (EPA) en raison de l'accumulation électrostatique réduite
Précentrage
VZ-R-12-28-K
Article 19462
- Précentrage confirmé, pour positionner la carte électronique sur le lit d’aiguilles
- Montage simple et rapide sur la plaque d’applique.
nanoVTEP SensorPlate 1,2 pouce
OTU-KS-NV-031-031
Article 109704
- Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
- Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
- Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
INGUN SELECTION
Précentrage
VZ-R-10-13-K
Article 21628
- Précentrage confirmé, pour positionner la carte électronique sur le lit d’aiguilles
- Montage simple et rapide sur la plaque d’applique.
INGUN SELECTION
Précentrage
VZ-R-12-22-K-X
Article 42295
- Précentrage confirmé, pour positionner la carte électronique sur le lit d’aiguilles
- Montage simple et rapide sur la plaque d’applique.
Précentrage
VZ-R-12-35-K
Article 50021
- Précentrage confirmé, pour positionner la carte électronique sur le lit d’aiguilles
- Montage simple et rapide sur la plaque d’applique.
Mécanisme d’approche latérale
Mécanisme d’approche latérale
SAM-M-14-300N-202-145
Article 12306
- Mise en contact latérale sûre durant le processus
- Guidage de précision stable, sans maintenance
- Montage économe de place, simple et précis
- Actionnement manuel
Mécanisme d’approche latérale
SAM-H7-20-150N-020-077
Article 106220
- Mise en contact latérale sûre durant le processus
- Version robuste et compacte
- Guidage de précision stable, sans maintenance
- Montage économe de place, simple et précis
- Actionnement piloté en course
- La mise en contact a lieu en même temps que la mise en contact des cartes électroniques
INGUN SELECTION
Mécanisme d’approche latérale
SAM-H7-16-150N-020-060-S
Article 45680
- Mise en contact latérale sûre durant le processus
- Version robuste et compacte
- Guidage de précision stable, sans maintenance
- Montage économe de place, simple et précis
- Actionnement piloté en course
- La mise en contact a lieu en même temps que la mise en contact des cartes électroniques
Mécanisme d’approche latérale
SAM-P-50-068N-082-105
Article 50140
- Mise en contact latérale sûre durant le processus
- Guidage de précision stable, sans maintenance
- Montage économe de place, simple et précis
- Actionnement pneumatique
Mécanisme d’approche latérale
SAM-M-14-300N-268-145
Article 12559
- Mise en contact latérale sûre durant le processus
- Guidage de précision stable, sans maintenance
- Montage économe de place, simple et précis
- Actionnement manuel
Mécanisme d’approche latérale
SAM-M-20-150N-070-063
Article 41070
- Mise en contact latérale sûre durant le processus
- Version robuste et compacte
- Guidage de précision stable, sans maintenance
- Montage économe de place, simple et précis
- Actionnement manuel