Douille de guidage FUB-08-14-35-POM-BL-B Article 2196
Douille de guidage FUB-08-14-35-POM-BL-B Article 2196
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Données techniques
| Groupe de produits : | Accessoires mécaniques |
|---|---|
| Série : | FU |
| Type : | Douille de guidage |
| Version : | Avec collet 1 x D15 mm |
| Type d’accessoire : | Accessoires d’équipement |
| Matériau : | POM |
| Couleur : | Blau |
| Conforme RoHS : | RoHS-3 |
| Montage : | Serti |
|---|---|
| Longueur : | 35 mm |
| Diamètre : | 14 mm |
| Diamètre intérieur : | 8.2 mm |
| Kits de remplacement version : | Standard, ESD, haute fréquence |
|---|---|
| Interfaces de test sous vide (VA) : | VA xxxx |
| Kits de remplacement MA (ATS MA) : | ATS MAx60, ATS MAxx |
| Kits de remplacement VA (ATS VA) : | VA xxxx |
Interface de test sous vide
Interface de test sous vide
VA 2073L/i3070-5
Article 8326
- Interfaces de test sous vide avec cassette de vide fermant en parallèle, pour contrôler de grandes quantités de cartes électroniques.
- Version robuste, facile à entretenir, d'une longévité hors pair
- Interface de test individuelle avec interface de système de test préconfigurée
- Disponible pour système de test i3070 de Keysight
- Confort d’utilisation accru, sans forces de fermeture notables
- Variantes à 1 et 2 niveaux
- Documents d’accompagnement détaillés (voir schéma d'équipement)
Interface de test sous vide
VA 2070S/i3070-5
Article 4844-KIT
- Interfaces de test sous vide avec cassette de vide fermant en parallèle, pour contrôler de grandes quantités de cartes électroniques.
- Version robuste, facile à entretenir, d'une longévité hors pair
- Disponible pour système de test i3070 de Keysight
- Confort d’utilisation accru, sans forces de fermeture notables
- Variantes à 1 et 2 niveaux
- Variantes à 1 et 2 niveaux
- Documents d’accompagnement détaillés (voir schéma d'équipement)