Garniture d'applique pour objet à tester PAS-05,8-03,0-FR4 Article 17806
- Poussoirs en plastique confirmés pour l'applique de la carte électronique
- Version robuste, stable en pression, confirmée à 100 000 exemplaires
- Résistance de dérivation typique de 10^6 à 10^9 ohms
- Adapté à l’utilisation en zones protégées ESD (EPA) en raison de l'accumulation électrostatique réduite
Garniture d'applique pour objet à tester PAS-05,8-03,0-FR4 Article 17806
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* Les prix sont arrondis à deux décimales.
Données techniques
| Groupe de produits : | Pointes d’applique pour objet à tester |
|---|---|
| Série : | PAS |
| Type : | Garnitures d’applique (ronde) pour objet à tester |
| Version : | Adapté à une zone protégée ESD |
| Type d’accessoire : | Accessoires d’équipement |
| Matériau : | FR4 |
| Température min. : | + 10 °C |
| Température max. : | + 60 °C |
| Conforme RoHS : | RoHS-3 |
| Alésage de montage en CEM1 : | 2.98 - 2.99 mm |
|---|---|
| Alésage de montage en FR4 : | 2.98 - 2.99 mm |
| Diamètre de tête : | 3 mm |
|---|---|
| Montage : | Serti |
| Longueur : | 10.8 mm |
| Hauteur de tête : | 5.8 mm |
| Diamètre : | 3 mm |
| Kits de remplacement version : | pas de restrictions |
|---|---|
| Interfaces de test manuelles (MA) : | MA 2009, MA 2011, MA 2012, MA 2013, MA 2013T, MA 2014 |
| Interfaces de test sous vide (VA) : | VA xxxx |
| Kits de remplacement MA (ATS MA) : | ATS MAxx, ATS MAxxx |
| Kits de remplacement VA (ATS VA) : | ATS VINxxx |
| Kits de remplacement PA (ATS PA) : | ATS PAZxxx, ATS PAxxxx |
Interface de test sous vide
INGUN SELECTION
Interface de test sous vide
VA 2070S/i3070-5
Article 4844-KIT
- Interfaces de test sous vide avec cassette de vide fermant en parallèle, pour contrôler de grandes quantités de cartes électroniques.
- Version robuste, facile à entretenir, d'une longévité hors pair
- Disponible pour système de test i3070 de Keysight
- Confort d’utilisation accru, sans forces de fermeture notables
- Variantes à 1 et 2 niveaux
- Variantes à 1 et 2 niveaux
- Documents d’accompagnement détaillés (voir schéma d'équipement)
Interface de test sous vide
VA 2073L/i3070-5
Article 8326
- Interfaces de test sous vide avec cassette de vide fermant en parallèle, pour contrôler de grandes quantités de cartes électroniques.
- Version robuste, facile à entretenir, d'une longévité hors pair
- Interface de test individuelle avec interface de système de test préconfigurée
- Disponible pour système de test i3070 de Keysight
- Confort d’utilisation accru, sans forces de fermeture notables
- Variantes à 1 et 2 niveaux
- Documents d’accompagnement détaillés (voir schéma d'équipement)