nanoVTEP Signal Conditioner B. OTE-KS-NV-064-MUX Article 108710
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- Circuits électroniques de commande pour l'Open-Test servant au contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, court-circuits et défauts de soudure
- Adapté aux systèmes de test Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) et Spea (Escan)
- Montage simple et rapide
nanoVTEP Signal Conditioner B. OTE-KS-NV-064-MUX Article 108710
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* Les prix sont arrondis à deux décimales.
Données techniques
| Groupe de produits : | Opens Tests |
|---|---|
| Série : | OTE |
| Type : | Keysight |
| Version : | nanoVTEP Signal Conditioner B. |
| Type d’accessoire : | Accessoires d’équipement |
| Largeur : | 25.8 mm |
| Hauteur : | 17.4 mm |
| Conforme RoHS : | RoHS-3 |
| Montage : | Filetage M3 |
|---|---|
| Nombre de pôles : | 2x 64 |
| Longueur : | 230 mm |
| Dimensions hors tout (LxPxH) : | 230.0 x 25.8 x 17.4 mm |
| Interfaces de test sous vide (VA) : | VA 2070 |
|---|---|
| Kits amovibles WS : | WS Keysight/i3070-5i |
Interface de test sous vide
Interface de test sous vide
VA 2070S/i3070-5
Article 4844-KIT
- Interfaces de test sous vide avec cassette de vide fermant en parallèle, pour contrôler de grandes quantités de cartes électroniques.
- Version robuste, facile à entretenir, d'une longévité hors pair
- Disponible pour système de test i3070 de Keysight
- Confort d’utilisation accru, sans forces de fermeture notables
- Variantes à 1 et 2 niveaux
- Variantes à 1 et 2 niveaux
- Documents d’accompagnement détaillés (voir schéma d'équipement)