nanoVTEP Signal Conditioner B. OTE-KS-NV-064-MUX Article 108710
- Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
- Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
- Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
- 2x 64 contacts, pour raccorder jusqu’à 64 sondes de test nanoVTEP
nanoVTEP Signal Conditioner B. OTE-KS-NV-064-MUX Article 108710
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OTE-KS-NV-064-MUX (108710)
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Données techniques
| Groupe de produits : | Opens Tests |
|---|---|
| Série : | OTE |
| Type : | Keysight Vectorless Test |
| Version : | nanoVTEP Signal Conditioner B. |
| Type d’accessoire : | Accessoires d’équipement |
| Largeur : | 25.8 mm |
| Hauteur : | 17.4 mm |
| Température min. : | + 10 °C |
| Température max. : | + 60 °C |
| Conforme RoHS : | RoHS-3 |
| Montage : | Filetage M3 |
|---|---|
| Nombre de pôles : | 2x 64 |
| Longueur : | 230 mm |
| Dimensions hors tout (LxPxH) : | 230.0 x 25.8 x 17.4 mm |
| Interfaces de test sous vide (VA) : | VA 3070S/L, VA 2070S/L |
|---|---|
| Kits amovibles WS : | WS Keysight |
Interface de test sous vide
INGUN SELECTION
Interface de test sous vide
VA 2070S/i3070-5
Article 4844-KIT
- Interfaces de test sous vide avec cassette de vide fermant en parallèle, pour contrôler de grandes quantités de cartes électroniques.
- Version robuste, facile à entretenir, d'une longévité hors pair
- Disponible pour système de test i3070 de Keysight
- Confort d’utilisation accru, sans forces de fermeture notables
- Variantes à 1 et 2 niveaux
- Variantes à 1 et 2 niveaux
- Documents d’accompagnement détaillés (voir schéma d'équipement)