Pointe d'évacuation ESD FB-ALS-VAxxxx Article 4137

Téléchargements
Attestation de conformité RoHS (EN|PDF)
Document (4137__Kundenzeichnung.PDF)
Document (INFO_1732.PDF)
Fiche technique du produit (FR|pdf)
Données CAO (INGUN_4137.STEP)
Choisir variante
FB-ALS-VAxxxx (4137)
FB-VER-ADP-VA3070 (115385) FB-OSA-P-ZSK/VKH/NDH (115857) FB-ABF-K-HMK-VAxxxx (3408-KIT) FB-ALS-VAxxxx-2S (17036) FB-2VE-VA4040T (115003) FB-2VE-VA4030 (114714) FB-2VE-VA4040 (114715) FB-2VE-VA4060T (115013) FB-ALS-VA207x (22111) FB-ABF-K-HMK-VAxxxx-2S (3409) FB-ALS-VA207x-2S (22112) FB-ALS-VAxxxx (4137) FB-VER-NDH-VA40xx (116020) FB-2VE-VA4060 (114716) FB-ALS-VA40xx (115948) FB-ENT-NDH-P (116285) FB-STP-OSA-ZSK/VKH/NDH (115870)
Ici, vous pouvez configurer une nouvelle variante en option :
Données techniques
Données générales
Groupe de produits : Modules fonctionnels
Série : FB-VAxxxx
Type : Contact de dérivation ESD
Version : Contact à 1 niveau
Type d’accessoire : Accessoires d’équipement
État à la livraison : non monté
Garniture : GKS-414-0007
Poids : 0.01 kg
Température min. : + 10 °C
Température max. : + 60 °C
Conforme RoHS : RoHS-3;6a;6c
Caractéristiques techniques
Course : 10 mm
Longueur : 40.8 mm
Diamètre : 3.0 mm
Adapté aux
Kits de remplacement version : pas de restrictions
Interfaces de test sous vide (VA) : VA 20xx

Interface de test sous vide

Interface de test sous vide VA 2073L/i3070-5 Article 8326
  • Interfaces de test sous vide avec cassette de vide fermant en parallèle, pour contrôler de grandes quantités de cartes électroniques.
  • Version robuste, facile à entretenir, d'une longévité hors pair
  • Interface de test individuelle avec interface de système de test préconfigurée
  • Disponible pour système de test i3070 de Keysight
  • Confort d’utilisation accru, sans forces de fermeture notables
  • Variantes à 1 et 2 niveaux
  • Documents d’accompagnement détaillés (voir schéma d'équipement)
INGUN SELECTION VA 2070S/i3070-5
Interface de test sous vide VA 2070S/i3070-5 Article 4844-KIT
  • Interfaces de test sous vide avec cassette de vide fermant en parallèle, pour contrôler de grandes quantités de cartes électroniques.
  • Version robuste, facile à entretenir, d'une longévité hors pair
  • Disponible pour système de test i3070 de Keysight
  • Confort d’utilisation accru, sans forces de fermeture notables
  • Variantes à 1 et 2 niveaux
  • Variantes à 1 et 2 niveaux
  • Documents d’accompagnement détaillés (voir schéma d'équipement)