Précentrage VZ-R-06-13-K Article 25519

Téléchargements
Attestation de conformité RoHS (EN|PDF)
Fiche technique du produit (FR|pdf)
Document (25519__Kundenzeichnung.PDF)
Données CAO (INGUN_25519.STEP)
Choisir variante
VZ-R-06-13-K (25519)
VZ-R-06-13-K (25519) VZ-R-12-22-K-ESD (23056) INGUN SELECTION VZ-R-12-22-K-X (42295) INGUN SELECTION VZ-R-12-28-K (19462) VZ-R-12-42-K-ESD (44253) VZ-R-8-22-M-X-M2 (2517) VZ-R-08-26-M-X (2518) VZ-R-10-13-K (21628) INGUN SELECTION VZ-R-12-19-K (20616) VZ-R-12-22-K (13781) INGUN SELECTION VZ-R-08-41-M-X (2519) VZ-R-12-35-K (50021) VZ-R-12-50-K (46758) VZ-R-06-13-M (42357)
Ici, vous pouvez configurer une nouvelle variante en option :
Données techniques
Données générales
Groupe de produits : Précentrages
Série : VZ
Type : VZ, rond, centré
Version : Non ESD
Type d’accessoire : Accessoires d’équipement
Matériau : POM
Couleur : Schwarz
Poids : 0.01 kg
Température min. : + 10 °C
Température max. : + 60 °C
Conforme RoHS : RoHS-3
Caractéristiques techniques
Montage : Filetage M3
Longueur : 12.5 mm
Diamètre : 6 mm
Adapté aux
Kits de remplacement version : pas de restrictions
Interfaces de test manuelles (MA) : MA 2009, MA 2011, MA 2012, MA 2013, MA 2013T, MA 2014
Interfaces de test sous vide (VA) : VA xxxx
Kits de remplacement MA (ATS MA) : ATS MAxx, ATS MAxxx
Kits de remplacement VA (ATS VA) : ATS VINxxx
Kits de remplacement PA (ATS PA) : ATS PAZxxx, ATS PAxxxx
Kits amovibles WS : WS
Pour mise en contact à 2 niveaux : oui

Interface de test sous vide

INGUN SELECTION VA 2070S/i3070-5
Interface de test sous vide VA 2070S/i3070-5 Article 4844-KIT
  • Interfaces de test sous vide avec cassette de vide fermant en parallèle, pour contrôler de grandes quantités de cartes électroniques.
  • Version robuste, facile à entretenir, d'une longévité hors pair
  • Disponible pour système de test i3070 de Keysight
  • Confort d’utilisation accru, sans forces de fermeture notables
  • Variantes à 1 et 2 niveaux
  • Variantes à 1 et 2 niveaux
  • Documents d’accompagnement détaillés (voir schéma d'équipement)
Interface de test sous vide VA 2073L/i3070-5 Article 8326
  • Interfaces de test sous vide avec cassette de vide fermant en parallèle, pour contrôler de grandes quantités de cartes électroniques.
  • Version robuste, facile à entretenir, d'une longévité hors pair
  • Interface de test individuelle avec interface de système de test préconfigurée
  • Disponible pour système de test i3070 de Keysight
  • Confort d’utilisation accru, sans forces de fermeture notables
  • Variantes à 1 et 2 niveaux
  • Documents d’accompagnement détaillés (voir schéma d'équipement)