nanoVTEP ConnectCheck Signal C OTE-KS-NV-064-MUX-REF Article 108711

  • Composants pour l’Opens-Test en vue d’un contrôle capacitif des puces semi-conductrices en claquages, courts-circuits et défauts de soudure
  • Convient à tous les systèmes de test Keysight 307x équipés de la version logicielle 9.2 ou supérieure
  • Reproductibilité, couverture de test et détection d’erreurs nettement améliorées comparé à la technologie VTEP.
  • 2x 64 contacts, pour raccorder jusqu’à 64 sondes de test nanoVTEP
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nanoVTEP ConnectCheck Signal C OTE-KS-NV-064-MUX-REF Article 108711

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Téléchargements
Attestation de conformité RoHS (EN|PDF)
Données CAO (INGUN_108711.STEP)
Fiche technique du produit (FR|pdf)
Document (108711__Kundenzeichnung.PDF)
Document (INFO_4250.PDF)
Document (Keysight-nanoVTEP_XReferenz_DE_EN_2.0.pdf)
Choisir variante
OTE-KS-NV-064-MUX-REF (108711)
OTE-SP-ES-016-MUX (32627) OTE-KS-NV-064-MUX (108710) INGUN SELECTION OTE-KS-NV-064-MUX-REF (108711)
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Données techniques
Données générales
Groupe de produits : Opens Tests
Série : OTE
Type : Keysight Vectorless Test
Version : nanoVTEP ConnectCheck Signal C
Type d’accessoire : Accessoires d’équipement
Largeur : 35.8 mm
Hauteur : 17.4 mm
Température min. : + 10 °C
Température max. : + 60 °C
Conforme RoHS : RoHS-3
Caractéristiques techniques
Montage : Filetage M3
Nombre de pôles : 2x 64
Longueur : 230 mm
Dimensions hors tout (LxPxH) : 230.0 x 35.8 x 17.4 mm
Adapté aux
Interfaces de test sous vide (VA) : VA 3070S/L, VA 2070S/L
Kits amovibles WS : WS Keysight