Personality Pin PP-INGUN-F Article 45000
- Broches personnalisées confirmées, pour équiper des interfaces de test avec interface de système de test Keysight.
- Tête plate, broche Wire-wrap entièrement dorée
- Trame typique de 3,81 mm (2,5 pouces)
- Fiables sur une multitude de cycles de contact et résistance à la corrosion pendant de nombreuses années
Personality Pin PP-INGUN-F Article 45000
Merci de vous identifier pour pouvoir afficher le prix !
Se connecter
Les prix listés dans le barème sont affichés arrondis, raison pour laquelle des différences sont possibles dans le prix total.
frais de port
* Les prix sont arrondis à deux décimales.
Données techniques
| Groupe de produits : | Personality Pins |
|---|---|
| Série : | PP |
| Type : | Personality Pin |
| Version : | Forme de tête plate |
| Type d’accessoire : | Accessoires d’équipement |
| Poids : | 0.01 kg |
| Température min. : | + 10 °C |
| Température max. : | + 60 °C |
| Conforme RoHS : | RoHS-3 |
| Alésage de montage en CEM1 : | 2.23 - 2.25 mm |
|---|---|
| Alésage de montage en FR4 : | 2.23 - 2.25 mm |
| Raccordement : | Wire-Wrap Pfosten (vergoldet) |
|---|---|
| Diamètre de tête : | 2.3 mm |
| Montage : | Serti |
| Trame d’incorporation : | 3.81 mm |
| Longueur : | 48.6 mm |
| Diamètre : | 3.0 mm |
| Kits de remplacement version : | pas de restrictions |
|---|---|
| Interfaces de test sous vide (VA) : | VA 2070, VA 3070 |
Interface de test sous vide
INGUN SELECTION
Interface de test sous vide
VA 2070S/i3070-5
Article 4844-KIT
- Interfaces de test sous vide avec cassette de vide fermant en parallèle, pour contrôler de grandes quantités de cartes électroniques.
- Version robuste, facile à entretenir, d'une longévité hors pair
- Disponible pour système de test i3070 de Keysight
- Confort d’utilisation accru, sans forces de fermeture notables
- Variantes à 1 et 2 niveaux
- Variantes à 1 et 2 niveaux
- Documents d’accompagnement détaillés (voir schéma d'équipement)
Interface de test sous vide
VA 2073L/i3070-5
Article 8326
- Interfaces de test sous vide avec cassette de vide fermant en parallèle, pour contrôler de grandes quantités de cartes électroniques.
- Version robuste, facile à entretenir, d'une longévité hors pair
- Interface de test individuelle avec interface de système de test préconfigurée
- Disponible pour système de test i3070 de Keysight
- Confort d’utilisation accru, sans forces de fermeture notables
- Variantes à 1 et 2 niveaux
- Documents d’accompagnement détaillés (voir schéma d'équipement)