Mécanisme d’approche latérale SAM-M-14-300N-268-145 Article 12559

Téléchargements
Attestation de conformité RoHS (EN|PDF)
Fiche technique du produit (FR|pdf)
Document (12559_Montagezeichnung.PDF)
Données CAO (INGUN_12559.STEP)
Document (12559__Kundenzeichnung.PDF)
Choisir variante
SAM-M-14-300N-268-145 (12559)
SAM-M-20-150N-070-063 (41070) SAM-M-14-300N-202-145 (12306) SAM-M-14-300N-268-145 (12559)
Ici, vous pouvez configurer une nouvelle variante en option :
Données techniques
Données générales
Groupe de produits : Mécanismes d’approche latérale (SAM)
Série : SAM-M
Type d’accessoire : Accessoires d’équipement
Génération de course de contact : manuellement
Poids : 0.85 kg
Température min. : - 5 °C
Température max. : + 60 °C
Caractéristiques techniques
Force de course de contact max. : 300 N
Course de contact max. : 14 mm
Détection de course de contact : Microrupteur
Longueur de bras de levier max. : 200 mm
Couple max. : 3 Nm
Dimensions hors tout (LxPxH) : 268 x 145 x 85 mm
Adapté aux
Kits de remplacement version : Standard # ESD
Interfaces de test manuelles (MA) : MA 2013
Interfaces de test pneumatiques (PA) : PA xxxx
Interfaces de test sous vide (VA) : VA xxxx
Kits de remplacement MA (ATS MA) : ATS MA13 # ATS MA14

Interfaces de test pneumatiques

Interface de test pneumatique PA 2130/D/H Article 20598
  • Interfaces de test pneumatiques avec entraînement fermant en parallèle pour contrôler des quantités moyennes de cartes électroniques.
  • Interface de test robuste, longue durée, avec came
  • Kits de rechange rapides, montables sans outil, utilisables sans rajustement, en version standard et ESD
  • Confort d’utilisation accru, sans forces de fermeture notables
  • Mouvement de mise en contact rapide

Interfaces de test manuelles

Interface manuelle MA 2013/D/H/HG Article 100720
  • Interface de test manuelle avec mécanisme d’entraînement fermant en parallèle, pour contrôler des quantités moyennes de cartes électroniques de très haute qualité et en version à jeu réduit.
  • Interface de test individuelle avec et sans interface de système de test préconfigurée
  • Kits montés à demeure, non amovibles, utilisables sans rajustage, en version standard, ESD et HF
  • Transmission directe du signal, câblée à demeure
  • Documents d’accompagnement détaillés (voir schéma d'équipement)
Interface manuelle MA 2013/D/H/PYLON-12 Article 53230
  • Interface de test manuelle avec mécanisme d’entraînement fermant en parallèle, pour contrôler des quantités moyennes de cartes électroniques de très haute qualité et en version à jeu réduit.
  • Interface de test individuelle avec et sans interface de système de test préconfigurée
  • Kits montés à demeure, non amovibles, utilisables sans rajustage, en version standard, ESD et HF
  • Transmission directe du signal, câblée à demeure
  • Documents d’accompagnement détaillés (voir schéma d'équipement)
Interface manuelle MA 2013/D/H/VPC-G12 Article 57325
  • Interface de test manuelle avec mécanisme d’entraînement fermant en parallèle, pour contrôler des quantités moyennes de cartes électroniques de très haute qualité et en version à jeu réduit.
  • Interface de test individuelle avec et sans interface de système de test préconfigurée
  • Kits montés à demeure, non amovibles, utilisables sans rajustage, en version standard, ESD et HF
  • Transmission directe du signal, câblée à demeure
  • Documents d’accompagnement détaillés (voir schéma d'équipement)
Interface manuelle MA 2013/D/H/VPC-G12x-18 Article 53390
  • Interface de test manuelle avec mécanisme d’entraînement fermant en parallèle, pour contrôler des quantités moyennes de cartes électroniques de très haute qualité et en version à jeu réduit.
  • Interface de test individuelle avec et sans interface de système de test préconfigurée
  • Kits montés à demeure, non amovibles, utilisables sans rajustage, en version standard, ESD et HF
  • Transmission directe du signal, câblée à demeure
  • Documents d’accompagnement détaillés (voir schéma d'équipement)
Interface manuelle MA 2013/D/H Article 48620
  • Interface de test manuelle avec mécanisme d’entraînement fermant en parallèle, pour contrôler des quantités moyennes de cartes électroniques de très haute qualité et en version à jeu réduit.
  • Interface de test individuelle avec et sans interface de système de test préconfigurée
  • Kits montés à demeure, non amovibles, utilisables sans rajustage, en version standard, ESD et HF
  • Transmission directe du signal, câblée à demeure
  • Documents d’accompagnement détaillés (voir schéma d'équipement)

Interface de test sous vide

Interface de test sous vide VA 2073L/i3070-5 Article 8326
  • Interfaces de test sous vide avec cassette de vide fermant en parallèle, pour contrôler de grandes quantités de cartes électroniques.
  • Version robuste, facile à entretenir, d'une longévité hors pair
  • Interface de test individuelle avec interface de système de test préconfigurée
  • Disponible pour système de test i3070 de Keysight
  • Confort d’utilisation accru, sans forces de fermeture notables
  • Variantes à 1 et 2 niveaux
  • Documents d’accompagnement détaillés (voir schéma d'équipement)
Interface de test sous vide VA 2070S/i3070-5 Article 4844-KIT
  • Interfaces de test sous vide avec cassette de vide fermant en parallèle, pour contrôler de grandes quantités de cartes électroniques.
  • Version robuste, facile à entretenir, d'une longévité hors pair
  • Disponible pour système de test i3070 de Keysight
  • Confort d’utilisation accru, sans forces de fermeture notables
  • Variantes à 1 et 2 niveaux
  • Variantes à 1 et 2 niveaux
  • Documents d’accompagnement détaillés (voir schéma d'équipement)