Interface de test sous vide VA 2073L/i3070-5 Article 8326
- Interfaces de test sous vide avec cassette de vide fermant en parallèle, pour contrôler de grandes quantités de cartes électroniques.
- Version robuste, facile à entretenir, d'une longévité hors pair
- Interface de test individuelle avec interface de système de test préconfigurée
- Disponible pour système de test i3070 de Keysight
- Confort d’utilisation accru, sans forces de fermeture notables
- Variantes à 1 et 2 niveaux
- Documents d’accompagnement détaillés (voir schéma d'équipement)
Interface de test sous vide VA 2073L/i3070-5 Article 8326
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Données techniques
Groupe de produits : | Interface de test sous vide (VA) |
---|---|
Série principale : | VA xxxx |
Sous-série : | VA 20xx |
Série : | VA 2073 |
Taille du type : | xx73 |
Type d’interface de test : | Interface individuelle |
Génération de course de contact : | vide |
Signaux d’interface max. : | 7332 |
Blocs d’interface requis : | non |
Sens de mise en contact : | unilatéral (en bas) |
Force de contact max. : | 24000 N |
Course de contact parallèle env. : | 7 mm |
Position de l’objet à tester (rangée-colonne) : | 2/22 - 00/75 |
Interface pour système de test : | Keysight i3070-5 |
Poids : | 20.2 kg |
Température min. : | + 10 °C |
Température max. : | + 60 °C |
Basse tension : | non |
Conformité ESD : | non |
Conforme RoHS : | RoHS-3;6a;6c |
Hauteur d’incorporation pointe de test en bas : | 16 mm |
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Version standard : | oui |
Surface utile standard (LxP) : | 670 x 380 mm |
Version ESD : | non |
Version haute fréquence : | non |
Version à aiguille rigide : | non |
Version à 2 niveaux : | non |
Mise en contact en haut (ZSK) : | oui, avec option supplémentaire adaptée |
Dimensions hors tout fermé (LxPxH) : | 827 x 460 x 100 mm |