Mesa de prueba de vacío VA 2070S/i3070-5 Artículo 4844-KIT
- Mesas de prueba de vacío con cartucho de vacío de cierre paralelo para probar grandes cantidades de tarjetas PCB
- Realización robusta, que requiere poco mantenimiento, con excelente vida útil
- Disponibles para el sistema de prueba Keysight i3070
- Mayor comodidad de operación sin fuerzas de cierre dignas de mención
- Variantes de 1 y 2 niveles
- Variantes de 1 y 2 niveles
- Documentación detallada incluida (p. ej. plano de ampliación)
Mesa de prueba de vacío VA 2070S/i3070-5 Artículo 4844-KIT
¡Por favor regístrese para mostrar el precio!
Iniciar sesión
Los precios enumerados en la escala se muestran redondeados, por eso son posibles desviaciones en el precio total.
envío aplicables
* Los precios se redondean con dos decimales.
Seleccionar variante
VA 2070S/i3070-5 (4844-KIT)
INGUN SELECTION
Aquí puede configurar opcionalmente una nueva variante:
Datos técnicos
| Grupo de productos : | Mesas de prueba de vacío (VA) |
|---|---|
| Serie principal : | VA xxxx |
| Serie : | VA 20xx |
| Serie : | VA 2070 |
| Tamaño : | xx70 |
| Tipo de mesa de prueba : | Mesa individual |
| Generación de carrera de contacto : | Vacío |
| Señales interfaces máx. : | 3666 |
| Bloques de interfaces necesarios : | No |
| Dirección de contacto : | Unilateral (abajo) |
| Fuerza de contacto máx. : | 11000 N |
| Carrera de contacto paralela aprox. : | 7 mm |
| Posición del dispositivo examinado (fila-columna) : | 1,5/22,5 - 00/78 |
| Interfaz de sistema de prueba : | Keysight i3070-5 |
| Peso : | 12 kg |
| Temperatura mín. : | + 10 °C |
| Temperatura máx. : | + 60 °C |
| Baja tensión : | No |
| Conforme ESD : | No |
| Conforme RoHS : | RoHS-3;6a;6c |
| Altura de montaje GKS inferior : | 16 mm |
|---|---|
| Modelo estándar : | Sí |
| Superficie útil estándar (AnxP) : | 305 x 380 mm |
| Modelo ESD : | No |
| Modelo radiofrecuencia : | No |
| Modelo aguja rígida : | No |
| Modelo 2 fases : | No |
| Contacto adicional superior (ZSK) : | Sí, con opción adicional adecuada |
| Dimensiones exteriores cerrado (AnxPxAl) : | 465 x 460 x 100 mm |
Unidades de marcado
Unidad de marcado
ME-E-R2,0-12-100-K12V
Artículo 24456
- Marcado duradero de diferentes materiales
- Posibilidad de posicionamiento preciso continuo
- Excelente vida útil con alta resistencia al desgaste y estabilidad
- Montaje muy sencillo
- Accionamiento Eléctrico
Unidad de marcado
ME-E-R2,0-12-080-S12V
Artículo 38371
- Marcado duradero de diferentes materiales
- Posibilidad de posicionamiento preciso continuo
- Excelente vida útil con alta resistencia al desgaste y estabilidad
- Montaje muy sencillo
- Accionamiento Eléctrico
Unidad de marcado
ME-P-F1,0-16-054-QS4
Artículo 29483
- Marcado duradero de diferentes materiales
- Posibilidad de posicionamiento preciso continuo
- Excelente vida útil con alta resistencia al desgaste y estabilidad
- Montaje muy sencillo
- Accionamiento neumático
Unidad de marcado
ME-E-R2,0-12-060-K12V
Artículo 24447
- Marcado duradero de diferentes materiales
- Posibilidad de posicionamiento preciso continuo
- Excelente vida útil con alta resistencia al desgaste y estabilidad
- Montaje muy sencillo
- Accionamiento Eléctrico
Unidad de marcado
ME-P-S2,0-16-054-QS4
Artículo 25241
- Marcado duradero de diferentes materiales
- Posibilidad de posicionamiento preciso continuo
- Excelente vida útil con alta resistencia al desgaste y estabilidad
- Montaje muy sencillo
- Accionamiento neumático
Unidad de marcado
ME-E-S2,0-12-060-K12V
Artículo 25251
- Marcado duradero de diferentes materiales
- Posibilidad de posicionamiento preciso continuo
- Excelente vida útil con alta resistencia al desgaste y estabilidad
- Montaje muy sencillo
- Accionamiento Eléctrico
Unidad de marcado
ME-E-R2,0-08-053-2S-BL6V-42V
Artículo 107376
- Construcción corta y compacta
- Cabezal de marcado con buril de tallado doble
- Posibilidad de posicionamiento preciso, continuo
- Unidad de grabado de cambio rápido
- Tensión operativa d 6 V a 42 V
- Marcado duradero de diferentes materiales
- Excelente vida útil con alta durabilidad y resistencia al desgaste
- Fuerza de extracción típica del casquillo de contacto: 3 N a 9,5 N
Accesorios
nanoVTEP Prueba de conector
OTC-KS-NV-SP-155-013
Artículo 108706
- Componentes probados para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuados para sistemas de prueba Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) y Spea (Escan)
- Montaje sencillo y rápido
Pre-centrado
VZ-R-12-19-K
Artículo 20616
- Pre-centrados probados para posicionar las piezas de prueba en la fontura de agujas
- Diferentes diámetros y alturas
- Modelo centrado y excéntrico
- Realización estándar y ESD
Consulta realizada
FB-ABF-A-S-GKS-2
Artículo 105850
- Juegos de actualización para mayor comodidad de operación, para aumentar la seguridad de prueba y para reducir los tiempos de manejo
- Disponibles para adaptadores de prueba manuales y juegos intercambiables
- Gran variedad de diferentes funciones
nanoVTEP SensorPlate 2.5 pulg.
OTU-KS-NV-065-065
Artículo 109705
- Grupos de componentes probados para los opens tests, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuados para sistemas de prueba Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) y Spea (Escan)
- Montaje sencillo y rápido
nanoVTEP SingleProbe 0.4 pulg.
OTC-KS-NV-SP-010-010
Artículo 108703
- Componentes probados para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuados para sistemas de prueba Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) y Spea (Escan)
- Montaje sencillo y rápido
nanoVTEP amplificador
OTC-KS-NV-EP
Artículo 108707
- Componentes probados para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuados para sistemas de prueba Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) y Spea (Escan)
- Montaje sencillo y rápido
Junta de vacío
VD-Z-19-XXX-XXX-2
Artículo 46795
- Junta de zona libre de VA con dimensiones exteriores variables
- Adecuado para fixturas VA 20xx de 2 niveles
nanoVTEP Test probe
OTC-KS-NV-GKS
Artículo 111606
- Componentes probados para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuados para sistemas de prueba Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) y Spea (Escan)
- Montaje sencillo y rápido
Pre-centrado
VZ-R-12-22-K
Artículo 13781
- Pre-centrados probados para posicionar las piezas de prueba en la fontura de agujas
- Diferentes diámetros y alturas
- Modelo centrado y excéntrico
- Realización estándar y ESD
Pre-centrado
VZ-R-08-41-M-X
Artículo 2519
- Pre-centrados probados para posicionar las piezas de prueba en la fontura de agujas
- Diferentes diámetros y alturas
- Modelo centrado y excéntrico
- Realización estándar y ESD
Soportes para piezas de prueba
PAS-05,8-03,0-FR4
Artículo 17806
- Sello de plástico probado para soporte de la placa de circuitos impresos
- Realización robusta, resistente a la presión, probada 100,000 veces
- Altura de cabeza uniforme, diferentes diámetros de cabeza
- Adecuado para uso en zonas de protección ESD (EPA), debido a su reducida carga electrostática
nanoVTEP SensorPlate 2.5 pulg.
OTC-KS-NV-SP-065-065
Artículo 108705
- Componentes probados para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuados para sistemas de prueba Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) y Spea (Escan)
- Montaje sencillo y rápido
Framescanplus amplificador
OTC-TD-FS-EP-GKS
Artículo 14762
- Componentes probados para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuados para sistemas de prueba Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) y Spea (Escan)
- Montaje sencillo y rápido
OpensXpress Connection Board
OTC-TS-OE-EP
Artículo 22374
- Componentes probados para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuados para sistemas de prueba Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) y Spea (Escan)
- Montaje sencillo y rápido
FrameScanPlus 0.500 x 6.25 plg.
OTC-TD-FS-SP-159-013
Artículo 14765
- Componentes probados para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuados para sistemas de prueba Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) y Spea (Escan)
- Montaje sencillo y rápido
Pre-centrado
VZ-R-08-26-M-X
Artículo 2518
- Pre-centrados probados para posicionar las piezas de prueba en la fontura de agujas
- Diferentes diámetros y alturas
- Modelo centrado y excéntrico
- Realización estándar y ESD
FrameScanPlus 1.25 x 1.25 plg
OTC-TD-FS-SP-032-032
Artículo 14766
- Componentes probados para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuados para sistemas de prueba Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) y Spea (Escan)
- Montaje sencillo y rápido
Framescanplus 0.375×0.475 pulg.
OTC-TD-FS-SP-013-010
Artículo 14763
- Componentes probados para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuados para sistemas de prueba Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) y Spea (Escan)
- Montaje sencillo y rápido
Pin personalizado
PP-INGUN-F
Artículo 45000
- Personality-pins probados para equipamiento de mesas de prueba con interfaz de sistema de prueba keysight
- Cabeza plana, pernos wire-wrap completamente dorados
- Trama típica de 3.81 mm (2.5 pulgadas)
- Confiables durante muchos ciclos de contacto y resistentes a la corrosión durante muchos años
Junta de vacío
VD-Z-15-XXX-XXX
Artículo 46794
- Junta de zona libre de VA con dimensiones exteriores variables
- Adecuado para fixturas VA 20xx de 1 nivel
Pre-centrado
VZ-R-12-50-K
Artículo 46758
- Pre-centrados probados para posicionar las piezas de prueba en la fontura de agujas
- Diferentes diámetros y alturas
- Modelo centrado y excéntrico
- Realización estándar y ESD
nanoVTEP PlacaSensor 1.2 pulg.
OTU-KS-NV-031-031
Artículo 109704
- Grupos de componentes probados para los opens tests, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuados para sistemas de prueba Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) y Spea (Escan)
- Montaje sencillo y rápido
FrameScanPlus 2.56 x 2.56 plg
OTC-TD-FS-SP-065-065
Artículo 14767
- Componentes probados para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuados para sistemas de prueba Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) y Spea (Escan)
- Montaje sencillo y rápido
Pre-centrado
VZ-R-10-13-K
Artículo 21628
- Pre-centrados probados para posicionar las piezas de prueba en la fontura de agujas
- Diferentes diámetros y alturas
- Modelo centrado y excéntrico
- Realización estándar y ESD
Pre-centrado
VZ-R-12-35-K
Artículo 50021
- Pre-centrados probados para posicionar las piezas de prueba en la fontura de agujas
- Diferentes diámetros y alturas
- Modelo centrado y excéntrico
- Realización estándar y ESD
Mecanismo de arranque lateral
Mecanismo de arranque lateral
SAM-M-14-300N-202-145
Artículo 12306
- Contacto lateral con seguridad de proceso
- Guía de precisión estable y libre de mantenimiento
- Montaje que ahorra espacio, sencillo y preciso
- Accionamiento manual
Mecanismo de arranque lateral
SAM-H7-20-150N-020-077
Artículo 106220
- Contacto lateral con seguridad de proceso
- Realización compacta y robusta
- Guía de precisión estable y libre de mantenimiento
- Montaje que ahorra espacio, sencillo y preciso
- Accionamiento controlado por carrera
- El proceso de contacto se realiza simultáneamente al contacto de la tarjeta PCB
Mecanismo de arranque lateral
SAM-H7-16-150N-020-060-S
Artículo 45680
- Contacto lateral con seguridad de proceso
- Realización compacta y robusta
- Guía de precisión estable y libre de mantenimiento
- Montaje que ahorra espacio, sencillo y preciso
- Accionamiento controlado por carrera
- El proceso de contacto se realiza simultáneamente al contacto de la tarjeta PCB
Mecanismo de arranque lateral
SAM-P-50-068N-082-105
Artículo 50140
- Contacto lateral con seguridad de proceso
- Guía de precisión estable y libre de mantenimiento
- Montaje que ahorra espacio, sencillo y preciso
- Activación neumática
Mecanismo de arranque lateral
SAM-M-14-300N-268-145
Artículo 12559
- Contacto lateral con seguridad de proceso
- Guía de precisión estable y libre de mantenimiento
- Montaje que ahorra espacio, sencillo y preciso
- Accionamiento manual
Mecanismo de arranque lateral
SAM-M-20-150N-070-063
Artículo 41070
- Contacto lateral con seguridad de proceso
- Realización compacta y robusta
- Guía de precisión estable y libre de mantenimiento
- Montaje que ahorra espacio, sencillo y preciso
- Accionamiento manual