Mesa de prueba de vacío VA 2070S/i3070-5 Artículo 4844-KIT

INGUN SELECTION

Mesas de prueba de vacío con cartucho de vacío de cierre paralelo para probar grandes cantidades de tarjetas PCB
Realización robusta, que requiere poco mantenimiento, con excelente vida útil
Disponibles para el sistema de prueba Keysight i3070
Mayor comodidad de operación sin fuerzas de cierre dignas de mención
Variantes de 1 y 2 niveles
Variantes de 1 y 2 niveles
Documentación detallada incluida (p. ej. plano de ampliación)

Mesa de prueba de vacío VA 2070S/i3070-5 Artículo 4844-KIT

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VA 2070S/i3070-5 (4844-KIT) INGUN SELECTION

Aquí puede configurar opcionalmente una nueva variante:

Datos técnicos

Datos generales
Grupo de productos :	Mesas de prueba de vacío (VA)
Serie principal :	VA xxxx
Subserie :	VA 20xx
Serie :	VA 2070
Tamaño :	xx70
Tipo de mesa de prueba :	Mesa individual
Generación de carrera de contacto :	Vacío
Señales interfaces máx. :	3666
Bloques de interfaces necesarios :	No
Dirección de contacto :	Unilateral (abajo)
Fuerza de contacto máx. :	11000 N
Carrera de contacto paralela aprox. :	7 mm
Posición del dispositivo examinado (fila-columna) :	1,5/22,5 - 00/78
Interfaz de sistema de prueba :	Keysight i3070-5
Peso :	12 kg
Temperatura mín. :	+ 10 °C
Temperatura máx. :	+ 60 °C
Baja tensión :	No
Conforme ESD :	No
Conforme RoHS :	RoHS-3;6a;6c

Datos técnicos
Altura de montaje GKS inferior :	16 mm
Modelo estándar :	Sí
Superficie útil estándar (AnxP) :	305 x 380 mm
Modelo ESD :	No
Modelo radiofrecuencia :	No
Modelo aguja rígida :	No
Modelo 2 fases :	No
Contacto adicional superior (ZSK) :	Sí, con opción adicional adecuada
Dimensiones exteriores cerrado (AnxPxAl) :	465 x 460 x 100 mm

Unidades de marcado

INGUN SELECTION

Unidad de marcado ME-E-R2,0-12-100-K12V Artículo 24456

Construcción compacta y robusta
Posibilidad de posicionamiento preciso, continuo
Marcado duradero de diferentes materiales
Excelente vida útil con alta durabilidad y resistencia al desgaste
Accionamiento Eléctrico

Detalles del producto

Unidad de marcado ME-E-R2,0-12-080-S12V Artículo 38371

Construcción compacta y robusta
Posibilidad de posicionamiento preciso, continuo
Marcado duradero de diferentes materiales
Excelente vida útil con alta durabilidad y resistencia al desgaste
Accionamiento Eléctrico

Detalles del producto

Unidad de marcado ME-P-F1,0-16-054-QS4 Artículo 29483

Construcción compacta y robusta
Posibilidad de posicionamiento preciso, continuo
Marcado duradero de diferentes materiales
Excelente vida útil con alta durabilidad y resistencia al desgaste
Accionamiento neumático

Detalles del producto

INGUN SELECTION

Unidad de marcado ME-E-R2,0-12-060-K12V Artículo 24447

Construcción compacta y robusta
Posibilidad de posicionamiento preciso, continuo
Marcado duradero de diferentes materiales
Excelente vida útil con alta durabilidad y resistencia al desgaste
Accionamiento Eléctrico

Detalles del producto

INGUN SELECTION

Unidad de marcado ME-P-S2,0-16-054-QS4 Artículo 25241

Construcción compacta y robusta
Posibilidad de posicionamiento preciso, continuo
Marcado duradero de diferentes materiales
Excelente vida útil con alta durabilidad y resistencia al desgaste
Accionamiento neumático

Detalles del producto

Unidad de marcado ME-E-S2,0-12-060-K12V Artículo 25251

Construcción compacta y robusta
Posibilidad de posicionamiento preciso, continuo
Marcado duradero de diferentes materiales
Excelente vida útil con alta durabilidad y resistencia al desgaste
Accionamiento Eléctrico

Detalles del producto

INGUN SELECTION

Unidad de marcado ME-E-R2,0-08-053-2S-BL6V-42V Artículo 107376

Construcción corta y compacta
Cabezal de marcado con buril de tallado doble
Posibilidad de posicionamiento preciso, continuo
Unidad de grabado de cambio rápido
Tensión operativa d 6 V a 42 V
Marcado duradero de diferentes materiales
Excelente vida útil con alta durabilidad y resistencia al desgaste
Fuerza de extracción típica del casquillo de contacto: 3 N a 9,5 N

Detalles del producto

Accesorios

nanoVTEP Prueba de conector OTC-KS-NV-SP-155-013 Artículo 108706

Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP

Detalles del producto

nanoVTEP PlacaSensor 1.2 pulg. OTC-KS-NV-SP-031-031 Artículo 108704

Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP

Detalles del producto

Pre-centrado VZ-R-12-19-K Artículo 20616

Pre-centrado de probada eficiencia para posicionamiento de la tarjeta PCB en la fontura de agujas
Montaje sencillo y rápido en la placa de presión

Detalles del producto

Pre-centrado VZ-R-06-13-K Artículo 25519

Pre-centrado de probada eficiencia para posicionamiento de la tarjeta PCB en la fontura de agujas
Montaje sencillo y rápido en la placa de presión

Detalles del producto

Placa de interfaz SSP KS-i3070L Artículo 14683

Detalles del producto

Conector guía FUS-08-24-38-ST-F-M4 Artículo 2230

Conector guía de alta precisión
Contacto preciso y con poca fricción
Exactitud de centrado de +/- 0.075 mm en combinación con casquillo guía #2196
Montaje rápido y sencillo

Detalles del producto

Consulta realizada FB-ABF-A-S-GKS-2 Artículo 105850

Juegos de actualización para mayor comodidad de operación, para aumentar la seguridad de prueba y para reducir los tiempos de manejo
Disponibles para adaptadores de prueba manuales y juegos intercambiables
Gran variedad de diferentes funciones

Detalles del producto

nanoVTEP SensorPlate 2.5 pulg. OTU-KS-NV-065-065 Artículo 109705

Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP

Detalles del producto

Soportes para piezas de prueba PAS-02,8-04,0 Artículo 32995

Sello de plástico probado para soporte de la placa de circuitos impresos
Realización robusta, resistente a la presión, probada 100,000 veces

Detalles del producto

Interfaz SST-PYLON-16 Artículo 111175

Diseño robusto para una gran estabilidad con baja deflexión a pleno equipamiento
Centrado mediante casquillos de perforación templados para una precisión óptima con una alta calidad de contacto
Suspensión flotante en la fixtura para una alineación y centrado óptimos en el receptor
Gran flexibilidad y modularidad en la transmisión de señales con los interface blocks

Detalles del producto

Contador de carrera eléctrico EHZ-08-R-49-OM Artículo 11224

Contador incorporado compacto
Pantalla de LCD de 7 segmentos
Batería integrada
Reinicio manual
Frecuencia de conteo: 30 Hz o 1 kHz
Medidas de montaje (ancho x prof. x alto): 44.8 x 48.5 x 22 mm

Detalles del producto

nanoVTEP SingleProbe 0.4 pulg. OTC-KS-NV-SP-010-010 Artículo 108703

Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP

Detalles del producto

nanoVTEP amplificador OTC-KS-NV-EP Artículo 108707

Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP

Detalles del producto

Junta de vacío VD-Z-19-XXX-XXX-2 Artículo 46795

Junta de zona libre de VA con dimensiones exteriores variables
Adecuado para fixturas VA 20xx de 2 niveles

Detalles del producto

nanoVTEP Test probe OTC-KS-NV-GKS Artículo 111606

Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP

Detalles del producto

INGUN SELECTION

Pre-centrado VZ-R-12-22-K-ESD Artículo 23056

Pre-centrado de probada eficiencia para posicionamiento de la tarjeta PCB en la fontura de agujas
Montaje sencillo y rápido en la placa de presión

Detalles del producto

nanoVTEP Revisión de conexión señal C OTE-KS-NV-064-MUX-REF Artículo 108711

Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP
2x 64 contactos, para conectar hasta 64 nanoVTEP sondas de prueba

Detalles del producto

nanoVTEP Acondicionador de señal B. OTE-KS-NV-064-MUX Artículo 108710

Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP
2x 64 contactos, para conectar hasta 64 nanoVTEP sondas de prueba

Detalles del producto

Pre-centrado VZ-R-12-42-K-ESD Artículo 44253

Pre-centrado de probada eficiencia para posicionamiento de la tarjeta PCB en la fontura de agujas
Montaje sencillo y rápido en la placa de presión

Detalles del producto

INGUN SELECTION

Pre-centrado VZ-R-12-22-K Artículo 13781

Pre-centrado de probada eficiencia para posicionamiento de la tarjeta PCB en la fontura de agujas
Montaje sencillo y rápido en la placa de presión

Detalles del producto

Pre-centrado VZ-R-08-41-M-X Artículo 2519

Pre-centrado de probada eficiencia para posicionamiento de la tarjeta PCB en la fontura de agujas
Montaje sencillo y rápido en la placa de presión

Detalles del producto

Detección contactada FB-ABF-K-HMK-VAxxxx Artículo 3408-KIT

Abfrage Leiterplatte kontaktiert
Prozesssichere Statusabfrage
Montaje sencillo y rápido

Detalles del producto

Pisador NDH-250-210-TestJet-ESD Artículo 39696

Detalles del producto

Soportes para piezas de prueba PAS-05,8-03,0-FR4 Artículo 17806

Sello de plástico probado para soporte de la placa de circuitos impresos
Realización robusta, resistente a la presión, probada 100,000 veces
Tip. Resistencia de descarga desde 10^6 hasta 10^9 Ohm
Adecuado para uso en zonas de protección ESD (EPA), debido a su reducida carga electrostática

Detalles del producto

Amortiguador FED-10,0-16,0-97N-09,0 Artículo 1571

Amortiguadores probados, adecuados para todas las mesas de prueba, juegos intercambiables y kits intercambiables
La más alta calidad en resortes de acero para máxima seguridad contra roturas
Diferentes diámetros
Diferentes fuerzas del resorte

Detalles del producto

nanoVTEP SingleProbe 0.16 pulg. OTC-KS-NV-SP-004-004 Artículo 108701

Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP

Detalles del producto

nanoVTEP SingleProbe tamaño B/C OTC-KS-NV-SP-007-004 Artículo 108702

Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP

Detalles del producto

INGUN SELECTION

Soportes para piezas de prueba PAS-02,8-05,0 Artículo 3161

Sello de plástico probado para soporte de la placa de circuitos impresos
Realización robusta, resistente a la presión, probada 100,000 veces
Tip. Resistencia de descarga desde 10^6 hasta 10^9 Ohm
Adecuado para uso en zonas de protección ESD (EPA), debido a su reducida carga electrostática

Detalles del producto

nanoVTEP SensorPlate 2.5 pulg. OTC-KS-NV-SP-065-065 Artículo 108705

Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP

Detalles del producto

Contador de carrera eléctrico EHZ-08-R-32-HE Artículo 34865

Contador incorporado compacto
Pantalla de LCD de 8 segmentos
Batería integrada
Reinicio manual
Frecuencia de conteo: 30 Hz
Medidas de montaje (ancho x prof. x alto): 44.8 x 31.2 x 22 mm

Detalles del producto

Framescanplus amplificador OTC-TD-FS-EP-GKS Artículo 14762

Componentes probados para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
Adecuados para sistemas de prueba Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) y Spea (Escan)
Montaje sencillo y rápido

Detalles del producto

Pisador NDH-180-150-TestJet Artículo 15266

Detalles del producto

Pisador NDH-250-210-TestJet Artículo 15241

Detalles del producto

Pre-centrado VZ-R-08-26-M-X Artículo 2518

Pre-centrado de probada eficiencia para posicionamiento de la tarjeta PCB en la fontura de agujas
Montaje sencillo y rápido en la placa de presión

Detalles del producto

Punta de derivación ESD FB-ALS-VAxxxx Artículo 4137

Descarga con seguridad de proceso de las descargas electrostáticas que se presenten a consecuencia de diferencias de potencial
Montaje rápido y sencillo

Detalles del producto

Interfaz SST-GR2270/71 Artículo 109715

Diseño robusto para una gran estabilidad con baja deflexión a pleno equipamiento
Centrado mediante casquillos de perforación templados para una precisión óptima con una alta calidad de contacto
Suspensión flotante en la fixtura para una alineación y centrado óptimos en el receptor
Gran flexibilidad y modularidad en la transmisión de señales con los interface blocks
Para receptores Pylon con conectores guía D = 10.3 mm

Detalles del producto

Interfaz SST-PYLON-12 Artículo 109145

Diseño robusto para una gran estabilidad con baja deflexión a pleno equipamiento
Centrado mediante casquillos de perforación templados para una precisión óptima con una alta calidad de contacto
Suspensión flotante en la fixtura para una alineación y centrado óptimos en el receptor
Gran flexibilidad y modularidad en la transmisión de señales con los interface blocks
Para receptores Pylon con conectores guía D = 9.5 mm

Detalles del producto

nanoVTEP Prueba de conector OTU-KS-NV-155-013 Artículo 109706

Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP

Detalles del producto

Framescanplus 0.375×0.475 pulg. OTC-TD-FS-SP-013-010 Artículo 14763

Componentes probados para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
Adecuados para sistemas de prueba Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) y Spea (Escan)
Montaje sencillo y rápido

Detalles del producto

Framescanfx2.0 amplificador OTC-TD-FX-EP Artículo 26486

Componentes probados para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
Adecuados para sistemas de prueba Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) y Spea (Escan)
Montaje sencillo y rápido

Detalles del producto

Pin personalizado PP-INGUN-F Artículo 45000

Personality-pins probados para equipamiento de mesas de prueba con interfaz de sistema de prueba keysight
Cabeza plana, pernos wire-wrap completamente dorados
Trama típica de 3.81 mm (2.5 pulgadas)
Confiables durante muchos ciclos de contacto y resistentes a la corrosión durante muchos años

Detalles del producto

Junta de vacío VD-Z-15-XXX-XXX Artículo 46794

Junta de zona libre de VA con dimensiones exteriores variables
Adecuado para fixturas VA 20xx de 1 nivel

Detalles del producto

Pre-centrado VZ-R-12-50-K Artículo 46758

Pre-centrado de probada eficiencia para posicionamiento de la tarjeta PCB en la fontura de agujas
Montaje sencillo y rápido en la placa de presión

Detalles del producto

INGUN SELECTION

Soportes para piezas de prueba PAS-02,8-03,0 Artículo 17990

Sello de plástico probado para soporte de la placa de circuitos impresos
Realización robusta, resistente a la presión, probada 100,000 veces
Tip. Resistencia de descarga desde 10^6 hasta 10^9 Ohm
Adecuado para uso en zonas de protección ESD (EPA), debido a su reducida carga electrostática

Detalles del producto

INGUN SELECTION

Casquillo guía FUB-08-14-35-POM-BL-B Artículo 2196

Detalles del producto

Placa de interfaz SSP KS-i3070S Artículo 14671

Detalles del producto

Pre-centrado VZ-R-12-28-K Artículo 19462

Pre-centrado de probada eficiencia para posicionamiento de la tarjeta PCB en la fontura de agujas
Montaje sencillo y rápido en la placa de presión

Detalles del producto

nanoVTEP PlacaSensor 1.2 pulg. OTU-KS-NV-031-031 Artículo 109704

Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP

Detalles del producto