nanoVTEP Test probe OTC-KS-NV-GKS Artículo 111606
- Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
- Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP
nanoVTEP Test probe OTC-KS-NV-GKS Artículo 111606
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OTC-KS-NV-GKS (111606)
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Datos técnicos
| Grupo de productos : | Opens Test |
|---|---|
| Serie : | OTC |
| Tipo : | Prueba sin vectores Keysight |
| Modelo : | NanoVTEP GKS (QA) |
| Tipo de accesorios : | Accesorios de ampliación |
| Temperatura mín. : | + 10 °C |
| Temperatura máx. : | + 60 °C |
| Conforme RoHS : | RoHS-3 |
| Mesas de prueba de vacío (VA) : | VA 3070S/L, VA 2070S/L |
|---|---|
| Juegos de recambio (WS) : | WS Keysight |
Mesas de prueba de vacío
INGUN SELECTION
Mesa de prueba de vacío
VA 2070S/i3070-5
Artículo 4844-KIT
- Mesas de prueba de vacío con cartucho de vacío de cierre paralelo para probar grandes cantidades de tarjetas PCB
- Realización robusta, que requiere poco mantenimiento, con excelente vida útil
- Disponibles para el sistema de prueba Keysight i3070
- Mayor comodidad de operación sin fuerzas de cierre dignas de mención
- Variantes de 1 y 2 niveles
- Variantes de 1 y 2 niveles
- Documentación detallada incluida (p. ej. plano de ampliación)