nanoVTEP Prueba de conector OTU-KS-NV-155-013 Artículo 109706
- Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
- Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP
nanoVTEP Prueba de conector OTU-KS-NV-155-013 Artículo 109706
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OTU-KS-NV-155-013 (109706)
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Datos técnicos
| Grupo de productos : | Opens Test |
|---|---|
| Serie : | OTU |
| Tipo : | Prueba sin vectores Keysight |
| Modelo : | nanoVTEP SP conector |
| Tipo de accesorios : | Accesorios de ampliación |
| Estado de entrega : | Incluye amplificador nanoVTEP, GKS (puntas de prueba con resorte) |
| Ancho : | 12.8 mm |
| Altura : | 37.8 mm |
| Temperatura mín. : | + 10 °C |
| Temperatura máx. : | + 60 °C |
| Conforme RoHS : | RoHS-3 |
| Carrera : | 2 mm |
|---|---|
| Longitud : | 155 mm |
| Dimensiones exteriores (AnxPxAl) : | 155.0 x 12.8 x 37.8 mm |
| Mesas de prueba de vacío (VA) : | VA 3070S/L, VA 2070S/L |
|---|---|
| Juegos de recambio (WS) : | WS Keysight |
Mesas de prueba de vacío
INGUN SELECTION
Mesa de prueba de vacío
VA 2070S/i3070-5
Artículo 4844-KIT
- Mesas de prueba de vacío con cartucho de vacío de cierre paralelo para probar grandes cantidades de tarjetas PCB
- Realización robusta, que requiere poco mantenimiento, con excelente vida útil
- Disponibles para el sistema de prueba Keysight i3070
- Mayor comodidad de operación sin fuerzas de cierre dignas de mención
- Variantes de 1 y 2 niveles
- Variantes de 1 y 2 niveles
- Documentación detallada incluida (p. ej. plano de ampliación)