nanoVTEP Acondicionador de señal B. OTE-KS-NV-064-MUX Artículo 108710
- Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
- Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP
- 2x 64 contactos, para conectar hasta 64 nanoVTEP sondas de prueba
nanoVTEP Acondicionador de señal B. OTE-KS-NV-064-MUX Artículo 108710
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OTE-KS-NV-064-MUX (108710)
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Datos técnicos
Grupo de productos : | Opens Test |
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Serie : | OTE |
Tipo : | Prueba sin vectores Keysight |
Modelo : | nanoVTEP Acondicionador de señal B. |
Tipo de accesorios : | Accesorios de ampliación |
Ancho : | 25.8 mm |
Altura : | 17.4 mm |
Temperatura mín. : | + 10 °C |
Temperatura máx. : | + 60 °C |
Conforme RoHS : | RoHS-3 |
Montaje : | Rosca M2.5 |
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Cantidad de polos : | 2x 64 |
Longitud : | 230 mm |
Dimensiones exteriores (AnxPxAl) : | 230.0 x 25.8 x 17.4 mm |
Mesas de prueba de vacío (VA) : | VA 3070S/L, VA 2070S/L |
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Juegos de recambio (WS) : | WS Keysight |