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- Componenti per il test Opens per il test capacitivo di chip semiconduttori alla ricerca di guasti, cortocircuiti e difetti di saldatura
- Adatto ai sistemi di test Digitaltest
| Altezza: | 49,8 mm |
|---|---|
| Conforme a RoHS: | sì |
| Dimensioni esterne (LxPxA): | 12 x 14 x 49,8 mm |
| Gruppo di prodotti: | opens test |
| Larghezza: | 12 mm |
| Lunghezza: | 14 mm |
| Peso: | 0,01 kg |
| Stato di consegna: | Piastra elettronica, piastra sensore, GKS |
| Temperatura max.: | 60 °C |
| Temperatura min.: | 10 °C |
| Tipo: | Digitaltest opens test |
| Tipo di accessorio: | accessori di ampliamento |
| Versione: | OpensCheck |
| connettori di prova per vuoto (VA): | VA xxxx/MTSxxx |
| corsa: | 5 mm |
| forza elastica: | 1 N |
| serie: | OTU |
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- Componenti per il test Opens per il test capacitivo di chip semiconduttori alla ricerca di guasti, cortocircuiti e difetti di saldatura
- Adatto ai sistemi di test Digitaltest
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- Versione: OpensCheck
- Tipo di accessorio: accessori di ampliamento
- Stato di consegna: Piastra elettronica, piastra sensore, GKS
- Larghezza: 12 mm
- Altezza: 49,8 mm
- Peso: 0,01 kg
- Temperatura min.: 10 °C
- Temperatura max.: 60 °C
- Conforme a RoHS: sì
- corsa: 5 mm
- forza elastica: 1 N
- Lunghezza: 14 mm
- Dimensioni esterne (LxPxA): 12 x 14 x 49,8 mm
- connettori di prova per vuoto (VA): VA xxxx/MTSxxx