NanoVTEP G2 SingleProbe 0.4" OTU-KS-NV-010-010-G2 Artikel 114386
- Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
- Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
NanoVTEP G2 SingleProbe 0.4" OTU-KS-NV-010-010-G2 Artikel 114386
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OTU-KS-NV-010-010-G2 (114386)
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Technische Daten
Produktgruppe : | Opens Tests |
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Baureihe : | OTU |
Typ : | Keysight Vectorless Test |
Ausführung : | nanoVTEP Gen2 SP 0.4 inch |
Zubehörtyp : | Ausbauzubehör |
Auslieferzustand : | Inkl. nanoVTEP Gen2 |
Breite : | 10.5 mm |
Höhe : | 48.7 mm |
Temperatur min. : | + 10 °C |
Temperatur max. : | + 60 °C |
RoHS-konform : | RoHS-3 |
Hub : | 4 mm |
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Länge : | 10.5 mm |
Außenmaße (BxTxH) : | 10.5 x 10.5 x 48.7 mm |
Vakuum-Prüfadapter (VA) : | VA 3070S/L, VA 2070S/L |
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Wechselsätze WS : | WS Keysight |