NanoVTEP G2 SingleProbe 0.16" OTU-KS-NV-004-004-G2 Artikel 114387

  • Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
  • Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
  • Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie
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NanoVTEP G2 SingleProbe 0.16" OTU-KS-NV-004-004-G2 Artikel 114387

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RoHS-Konformitätsbestätigung (DE|PDF)
Produktdatenblatt (DE|pdf)
Dokument (114387__Kundenzeichnung.PDF)
CAD-Daten (INGUN_114387.STEP)
Dokument (INFO_4250.PDF)
Dokument (Keysight-nanoVTEP_XReferenz_DE_EN_2.0.pdf)
Direktauswahl
OTU-KS-NV-004-004-G2 (114387)
OTU-KS-NV-010-010-G2 (114386) OTU-KS-NV-004-004-G2 (114387) OTU-KS-NV-155-013 (109706) OTU-SP-ES-028-028-L300 (32630) OTU-KS-NV-031-031 (109704) OTU-KS-NV-065-065 (109705) OTU-KS-NV-007-004-G2 (114388) OTU-DT-OC-160-100 (18748) TTC-SP-NTC-SP-010-010-GKS-KS14 (60291) OTU-TD-FX-CS-007-004 (19643) OTU-TD-FX-CS-008-005 (19644)
Hier können Sie optional eine neue Variante konfigurieren:
Technische Daten
Allgemeine Daten
Produktgruppe : Opens Tests
Baureihe : OTU
Typ : Keysight Vectorless Test
Ausführung : nanoVTEP Gen2 SP 0.16 inch
Zubehörtyp : Ausbauzubehör
Auslieferzustand : Inkl. nanoVTEP Gen2
Breite : 4 mm
Höhe : 48.7 mm
Temperatur min. : + 10 °C
Temperatur max. : + 60 °C
RoHS-konform : RoHS-3
Technische Daten
Hub : 4 mm
Länge : 4 mm
Außenmaße (BxTxH) : 4.0 x 4.0 x 48.7 mm
Passend für
Vakuum-Prüfadapter (VA) : VA 3070S/L, VA 2070S/L
Wechselsätze WS : WS Keysight