NanoVTEP G2 SingleProbe 0.16" OTU-KS-NV-004-004-G2 Artikel 114387

Komponente für den Opens-Test, zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
Geeignet für alle Keysight 307x-Testsysteme mit Softwareversion 9.2 oder höher
Verbesserte Wiederholgenauigkeit, Testabdeckung und Fehlererkennung im Vergleich zur VTEP-Technologie

NanoVTEP G2 SingleProbe 0.16" OTU-KS-NV-004-004-G2 Artikel 114387

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OTU-KS-NV-004-004-G2 (114387)

OTU-KS-NV-155-013 (109706) OTU-KS-NV-010-010-G2 (114386) OTU-KS-NV-004-004-G2 (114387) OTU-SP-ES-028-028-L300 (32630) OTU-KS-NV-031-031 (109704) OTU-KS-NV-065-065 (109705) OTU-KS-NV-007-004-G2 (114388) OTU-DT-OC-160-100 (18748) OTU-TD-FX-CS-008-005 (19644) OTU-TD-FX-CS-007-004 (19643) TTC-SP-NTC-SP-010-010-GKS-KS14 (60291)

Hier können Sie optional eine neue Variante konfigurieren:

Technische Daten

Allgemeine Daten
Produktgruppe :	Opens Tests
Baureihe :	OTU
Typ :	Keysight Vectorless Test
Ausführung :	nanoVTEP Gen2 SP 0.16 inch
Zubehörtyp :	Ausbauzubehör
Auslieferzustand :	Inkl. nanoVTEP Gen2
Breite :	4 mm
Höhe :	48.7 mm
Temperatur min. :	+ 10 °C
Temperatur max. :	+ 60 °C
RoHS-konform :	RoHS-3

Technische Daten
Hub :	4 mm
Länge :	4 mm
Außenmaße (BxTxH) :	4.0 x 4.0 x 48.7 mm

Passend für
Vakuum-Prüfadapter (VA) :	VA 3070S/L, VA 2070S/L
Wechselsätze WS :	WS Keysight