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Detalles del producto
  • Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
  • Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
  • Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP

Otros productos de esta serie:

Datos técnicos
  • Carrera: 2 mm
  • Longitud: 155 mm
  • Dimensiones exteriores (AnxPxAl): 155 x 12,8 x 37,8 mm
  • Grupo de productos: Opens Test
  • Serie: OTU
  • Tipo: Prueba sin vectores Keysight
  • Modelo: nanoVTEP SP conector
  • Tipo de accesorios: Accesorios customizados
  • Estado de entrega: Incluye amplificador nanoVTEP, GKS (puntas de prueba con resorte)
  • Ancho: 12,8 mm
  • Altura: 37,8 mm
  • Temperatura mín.: 10 °C
  • Temperatura máx.: 60 °C
  • Conforme RoHS:
  • Mesas de prueba de vacío (VA): VA 3070S/L, VA 2070S/L
  • Juegos de recambio (WS): WS Keysight
Herramientas y accesorios adecuados
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