Información sobre el producto "OTU-TD-FX-CS-008-005"
- Grupos de componentes probados para los opens tests, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuados para sistemas de prueba Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) y Spea (Escan)
- Montaje sencillo y rápido
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- Grupos de componentes probados para los opens tests, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuados para sistemas de prueba Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) y Spea (Escan)
- Montaje sencillo y rápido
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