Zum Hauptinhalt springen Zur Suche springen Zur Hauptnavigation springen
产品详情
  • 经过实践检验的开路测试用组件,用于半导体芯片的电容式测试,检测其是否断裂、短路和存在焊接缺陷
  • 适用于 Keysight(TestJet,VTEP)、Teradyne (FrameScan) 和 Spea (Escan) 测试系统
  • 安装简便快捷

本系列的其他产品:

技术参数