supporto del campione PAS-02,8-03,0 Articolo 17990

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Dichiarazione di conformità RoHS (EN|PDF)
Scheda tecnica del prodotto (IT|pdf)
Dati CAD (INGUN_17990.STEP)
Selezionare la variante
PAS-02,8-03,0 (17990) INGUN SELECTION
PAS-02,8-05,0 (3161) INGUN SELECTION PAS-02,8-03,0 (17990) INGUN SELECTION PAS-02,8-04,0 (32995) PAS-05,8-03,0-FR4 (17806)
Qui è possibile configurare facoltativamente una nuova variante:
Dati tecnici
Dati generali
Gruppo di prodotti : perni di supporto del campione
serie : PAS
Tipo : Supporto del campione di prova (rotondo)
Versione : Adatto alla zona di protezione ESD
Tipo di accessorio : accessori di ampliamento
materiale : PA6
Temperatura min. : + 10 °C
Temperatura max. : + 60 °C
Conforme a RoHS : RoHS-3
Foro di montaggio
Foro di montaggio in CEM1 : 1.98 - 1.99 mm
Foro di montaggio in FR4 : 1.98 - 1.99 mm
Dati tecnici
Diametro testa : 3 mm
Montaggio : Premuto
Lunghezza : 6.8 mm
Altezza testina : 2.8 mm
Diametro : 2 mm
Adatto per
Versione kit di ricambio : nessuna restrizione
connettori di prova manuali (MA) : MA 2009, MA 2011, MA 2012, MA 2013, MA 2013T, MA 2014
connettori di prova per vuoto (VA) : VA xxxx
Kit di ricambio MA (ATS MA) : ATS MAxx, ATS MAxxx
Kit di ricambio VA (ATS VA) : ATS VINxxx
Kit di ricambio PA (ATS PA) : ATS PAZxxx, ATS PAxxxx

connettore di prova per vuoto

connettori di prova per vuoto VA 2073L/i3070-5 Articolo 8326
  • Connettori di prova per vuoto con cassetta a vuoto a chiusura parallela per testare grandi quantità di PCB
  • Design robusto e di facile manutenzione con una durata di vita eccezionale
  • Connettore di prova singolo con interfaccia del sistema di prova preconfigurata
  • Disponibile per il sistema di test Keysight i3070
  • Maggiore facilità d'uso senza forze di chiusura significative
  • varianti a 1 e 2 stadi
  • Documenti di accompagnamento dettagliati (per esempio schema di ampliamento)
INGUN SELECTION VA 2070S/i3070-5
connettori di prova per vuoto VA 2070S/i3070-5 Articolo 4844-KIT
  • Connettori di prova per vuoto con cassetta a vuoto a chiusura parallela per testare grandi quantità di PCB
  • Design robusto e di facile manutenzione con una durata di vita eccezionale
  • Disponibile per il sistema di test Keysight i3070
  • Maggiore facilità d'uso senza forze di chiusura significative
  • varianti a 1 e 2 stadi
  • varianti a 1 e 2 stadi
  • Documenti di accompagnamento dettagliati (per esempio schema di ampliamento)