VA 3070S
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Interface de test sous vide
VA 3070S/i3070
Article 114853
- Génération de course de contact: vide
- Surface utile standard (LxP): 315 x 400 mm
- Force de contact max.: 13000 N
- Type de boîtier: Boîtier plat
Interface de test sous vide
VA 3070S/ZSK-10P/i3070
Article 115121
- Génération de course de contact: vide
- Force de contact max.: 13000 N
- Type de boîtier: Boîtier plat
- Signaux d’interface max.: 3552
Interface de test sous vide
VA 3070S-2e/ZSK-10P/i3070
Article 115152
- Génération de course de contact: vide
- Force de contact max.: 13000 N
- Type de boîtier: Boîtier plat
- Signaux d’interface max.: 3552
Interface de test sous vide
VA 3070S-2e/i3070
Article 115193
- Génération de course de contact: vide
- Force de contact max.: 13000 N
- Type de boîtier: Boîtier plat
- Signaux d’interface max.: 3552
Interface de test sous vide
VA 3070S-2e/ZSK-10P-2e/i3070
Article 115202
- Génération de course de contact: vide
- Force de contact max.: 13000 N
- Type de boîtier: Boîtier plat
- Signaux d’interface max.: 3552
Interface de test sous vide
VA 3070S/ZSK-10/i3070
Article 115345
- Génération de course de contact: vide
- Force de contact max.: 13000 N
- Type de boîtier: Boîtier plat
- Signaux d’interface max.: 3552
Interface de test sous vide
VA 3070S/OSA/i3070
Article 115353
- Génération de course de contact: vide
- Surface utile standard (LxP): 290 x 340 mm
- Force de contact max.: 13000 N
- Type de boîtier: Boîtier plat