Interface de test sous vide VA 3070S-2e/i3070 Article 115193
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- Interface de test sous vide avec cassette sous vide serrant en parallèle.
- Y compris interface adaptatrice pour système de test Keysight i3070
- Y compris poignées de transport compatibles Alum-A-Lift
- Version robuste, facile à entretenir, d'une longévité hors pair
- Confort d’utilisation accru, manipulation simple et intuitive
- Pour le montage des articles livrés non montés, les dessins des articles indiqués dans la liste de pièces doivent être utilisés.
Interface de test sous vide VA 3070S-2e/i3070 Article 115193
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VA 3070S-2e/i3070 (115193)
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Données techniques
Groupe de produits : | Interface de test sous vide (VA) |
---|---|
Série principale : | VA xxxx |
Sous-série : | VA 30xx |
Série : | VA 3070S |
Taille du type : | xx70S |
Type d’interface de test : | Interface individuelle, Keysight petit |
Génération de course de contact : | vide |
Type de boîtier : | Boîtier plat |
Signaux d’interface max. : | 3552 |
Blocs d’interface requis : | non |
Sens de mise en contact : | ICT/FCT en bas |
Force de contact max. : | 13000 N |
Course de contact parallèle env. : | 12 mm |
Interface pour système de test : | Keysight i3070 petit |
Poids : | 19.9 kg |
Température min. : | + 10 °C |
Température max. : | + 60 °C |
Basse tension : | non |
Conformité ESD : | non |
Conforme RoHS : | RoHS-3;6a;6c |
Hauteur d’incorporation pointe de test en bas : | 16 mm |
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Hauteur d’incorporation pointe de test à 2 niveaux en bas : | 21.5 mm |
Version standard : | oui |
Version ESD : | non |
Version haute fréquence : | non |
Version à aiguille rigide : | non |
Version à 2 niveaux : | oui |
Surface utile à 2 niveaux (LxP) : | 300 x 335 mm |
Mise en contact en haut (ZSK) : | oui, avec option supplémentaire adaptée |
Dimensions hors tout fermé (LxPxH) : | 478 x 460 x 117 mm |