Interface de test sous vide VA 3070S-2e/ZSK-10P-2e/i3070 Article 115202

Téléchargements
Attestation de conformité RoHS (EN|PDF)
Document (115164__Kundenzeichnung.PDF)
Document (115153__Kundenzeichnung.PDF)
Données CAO (INGUN_115202.STEP)
Document (INFO_4675.PDF)
Document (115202__Kundenzeichnung.PDF)
Document (INFO_4677.PDF)
Fiche technique du produit (FR|pdf)
Choisir variante
VA 3070S-2e/ZSK-10P-2e/i3070 (115202)
VA 3070S/ZSK-10P/i3070 (115121) VA 3070S/i3070 (114853) VA 3070S/ZSK-10/i3070 (115345) VA 3070S-2e/i3070 (115193) VA 3070S/OSA/i3070 (115353) VA 3070S-2e/ZSK-10P-2e/i3070 (115202) VA 3070S-2e/ZSK-10P/i3070 (115152)
Ici, vous pouvez configurer une nouvelle variante en option :
Données techniques
Données générales
Groupe de produits : Interface de test sous vide (VA)
Série principale : VA xxxx
Série : VA 30xx
Série : VA 3070S
Taille du type : xx70S
Type d’interface de test : Einzeladapter, Zusatzkontaktierung, Keysight small
Génération de course de contact : vide
Type de boîtier : Boîtier plat
Signaux d’interface max. : 3552
Blocs d’interface requis : non
Sens de mise en contact : ICT/FCT unten, oben
Force de contact max. : 13000 N
Course de contact parallèle env. : 12 mm
Interface pour système de test : Keysight i3070 small
Poids : 32 kg
Température min. : + 10 °C
Température max. : + 60 °C
Basse tension : non
Conformité ESD : non
Conforme RoHS : RoHS-3;6a;6c
Caractéristiques techniques
Longueur du poussoir du dispositif de placage : 15 mm
Hauteur d’incorporation pointe de test en haut : 16 mm
Hauteur d’incorporation pointe de test en bas : 16 mm
Hauteur d’incorporation pointe de test à 2 niveaux en haut : 21.5 mm
Hauteur d’incorporation pointe de test à 2 niveaux en bas : 21.5 mm
Hauteur libre au-dessus de la PCB : 10 mm
Version standard : oui
Version ESD : non
Version haute fréquence : non
Version à aiguille rigide : non
Version à 2 niveaux : oui
Mise en contact en haut (ZSK) : oui
Surface utile ZSK (LxP) : 260 x 300 mm
Dimensions hors tout fermé (LxPxH) : 631 x 534 x 209 mm