Interface de test sous vide VA 3070S/i3070 Article 114853

Téléchargements
Attestation de conformité RoHS (EN|PDF)
Document (114914__Kundenzeichnung.PDF)
Données CAO (INGUN_114853.STEP)
Fiche technique du produit (FR|pdf)
Document (INFO_4675.PDF)
Document (114915__Kundenzeichnung.PDF)
Document (INFO_4677.PDF)
Document (114853__Kundenzeichnung.PDF)
Choisir variante
VA 3070S/i3070 (114853)
VA 3070S/ZSK-10P/i3070 (115121) VA 3070S/i3070 (114853) VA 3070S/ZSK-10/i3070 (115345) VA 3070S/OSA/i3070 (115353) VA 3070S-2e/i3070 (115193) VA 3070S-2e/ZSK-10P/i3070 (115152) VA 3070S-2e/ZSK-10P-2e/i3070 (115202)
Ici, vous pouvez configurer une nouvelle variante en option :
Données techniques
Données générales
Groupe de produits : Interface de test sous vide (VA)
Série principale : VA xxxx
Sous-série : VA 30xx
Série : VA 3070S
Taille du type : xx70S
Type d’interface de test : Interface individuelle, Keysight petit
Génération de course de contact : vide
Type de boîtier : Boîtier plat
Signaux d’interface max. : 3552
Blocs d’interface requis : non
Sens de mise en contact : ICT en bas
Force de contact max. : 13000 N
Course de contact parallèle env. : 7 mm
Interface pour système de test : Keysight i3070 petit
Poids : 19.4 kg
Température min. : + 10 °C
Température max. : + 60 °C
Basse tension : non
Conformité ESD : non
Conforme RoHS : RoHS-3;6a;6c
Caractéristiques techniques
Hauteur d’incorporation pointe de test en bas : 16 mm
Version standard : oui
Surface utile standard (LxP) : 315 x 400 mm
Version ESD : non
Version haute fréquence : non
Version à aiguille rigide : non
Version à 2 niveaux : non
Mise en contact en haut (ZSK) : oui, avec option supplémentaire adaptée
Dimensions hors tout fermé (LxPxH) : 473 x 460 x 117 mm