nanoVTEP condizionatore di segnale B. OTE-KS-NV-064-MUX Articolo 108710
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- elettronica di comando collaudata per il test Opens, per la prova capacitiva di chip semiconduttori alla ricerca di guasti, cortocircuiti e difetti di saldatura
- Adatto ai sistemi di test Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) e Spea (Escan)
- Montaggio semplice e veloce
nanoVTEP condizionatore di segnale B. OTE-KS-NV-064-MUX Articolo 108710
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Dati tecnici
| Gruppo di prodotti : | opens test |
|---|---|
| serie : | OTE |
| Tipo : | Keysight |
| Versione : | nanoVTEP condizionatore di segnale B. |
| Tipo di accessorio : | accessori di ampliamento |
| Larghezza : | 25.8 mm |
| Altezza : | 17.4 mm |
| Conforme a RoHS : | RoHS-3 |
| Montaggio : | Filetto M3 |
|---|---|
| Numero di poli : | 2x 64 |
| Lunghezza : | 230 mm |
| Dimensioni esterne (LxPxA) : | 230.0 x 25.8 x 17.4 mm |
| connettori di prova per vuoto (VA) : | VA 2070 |
|---|---|
| Kit di ricambio WS : | WS Keysight/i3070-5i |
connettore di prova per vuoto
connettori di prova per vuoto
VA 2070S/i3070-5
Articolo 4844-KIT
- Connettori di prova per vuoto con cassetta a vuoto a chiusura parallela per testare grandi quantità di PCB
- Design robusto e di facile manutenzione con una durata di vita eccezionale
- Disponibile per il sistema di test Keysight i3070
- Maggiore facilità d'uso senza forze di chiusura significative
- varianti a 1 e 2 stadi
- varianti a 1 e 2 stadi
- Documenti di accompagnamento dettagliati (per esempio schema di ampliamento)