nanoVTEP ConnectCheck Signal C OTE-KS-NV-064-MUX-REF Articolo 108711
- Componenti per il test Opens per il test capacitivo di chip semiconduttori alla ricerca di guasti, cortocircuiti e difetti di saldatura
- Adatto a tutti i sistemi di test Keysight 307x con versione software 9.2 o superiore
- Migliore ripetibilità, copertura dei test e rilevamento dei guasti rispetto alla tecnologia VTEP
- 2x 64 contatti, per collegare fino a 64 sonde di test nanoVTEP
nanoVTEP ConnectCheck Signal C OTE-KS-NV-064-MUX-REF Articolo 108711
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OTE-KS-NV-064-MUX-REF (108711)
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Dati tecnici
| Gruppo di prodotti : | opens test |
|---|---|
| serie : | OTE |
| Tipo : | Test vettoriale Keysight |
| Versione : | nanoVTEP ConnectCheck Signal C |
| Tipo di accessorio : | accessori di ampliamento |
| Larghezza : | 35.8 mm |
| Altezza : | 17.4 mm |
| Temperatura min. : | + 10 °C |
| Temperatura max. : | + 60 °C |
| Conforme a RoHS : | RoHS-3 |
| Montaggio : | Filetto M3 |
|---|---|
| Numero di poli : | 2x 64 |
| Lunghezza : | 230 mm |
| Dimensioni esterne (LxPxA) : | 230.0 x 35.8 x 17.4 mm |
| connettori di prova per vuoto (VA) : | VA 3070S/L, VA 2070S/L |
|---|---|
| Kit di ricambio WS : | WS Keysight |
connettore di prova per vuoto
INGUN SELECTION
connettori di prova per vuoto
VA 2070S/i3070-5
Articolo 4844-KIT
- Connettori di prova per vuoto con cassetta a vuoto a chiusura parallela per testare grandi quantità di PCB
- Design robusto e di facile manutenzione con una durata di vita eccezionale
- Disponibile per il sistema di test Keysight i3070
- Maggiore facilità d'uso senza forze di chiusura significative
- varianti a 1 e 2 stadi
- varianti a 1 e 2 stadi
- Documenti di accompagnamento dettagliati (per esempio schema di ampliamento)