nanoVTEP ConnectCheck Signal C OTE-KS-NV-064-MUX-REF Articolo 108711
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- elettronica di comando collaudata per il test Opens, per la prova capacitiva di chip semiconduttori alla ricerca di guasti, cortocircuiti e difetti di saldatura
- Adatto ai sistemi di test Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) e Spea (Escan)
- Montaggio semplice e veloce
nanoVTEP ConnectCheck Signal C OTE-KS-NV-064-MUX-REF Articolo 108711
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Dati tecnici
Gruppo di prodotti : | opens test |
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serie : | OTE |
Tipo : | Keysight |
Versione : | nanoVTEP ConnectCheck Signal C |
Tipo di accessorio : | accessori di ampliamento |
Larghezza : | 35.8 mm |
Altezza : | 17.4 mm |
Conforme a RoHS : | RoHS-3 |
Montaggio : | Filetto M3 |
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Numero di poli : | 2x 64 |
Lunghezza : | 230 mm |
Dimensioni esterne (LxPxA) : | 230.0 x 35.8 x 17.4 mm |
connettori di prova per vuoto (VA) : | VA 2070 |
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Kit di ricambio WS : | WS Keysight/i3070-5i |