Amplificatore FrameScanFX2.0 OTC-TD-FX-EP Articolo 26486

  • Componenti per il test Opens per il test capacitivo di chip semiconduttori alla ricerca di guasti, cortocircuiti e difetti di saldatura
  • Suitable for Teradyne test systems
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Amplificatore FrameScanFX2.0 OTC-TD-FX-EP Articolo 26486

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OTC-TD-FX-EP (26486)
OTC-DT-OC-SP-163-102 (18747) OTC-KS-NV-SP-004-004 (108701) OTC-KS-NV-SP-007-004 (108702) OTC-KS-NV-SP-031-031 (108704) OTC-SP-ES-EP-L300 (33512) OTC-SP-ES-EP-L400 (33513) OTC-SP-ES-EP-L600 (33514) OTC-SP-ES-SP-005-009 (33519) OTC-TD-FX-EP (26486) OTC-SP-ES-SP-014-020 (33527) OTC-SP-ES-SP-035-035 (33529) OTC-KS-NV-KS-G2 (114374) OTC-KS-NV-ST-G2 (114373) OTC-KS-NV-EP-ST-KS-G2 (114385) OTC-DT-OC-EP (18746) OTC-KS-NV-EP (108707) OTC-KS-NV-GKS (111606) OTC-KS-NV-SP-155-013 (108706) OTC-SP-ES-EP-L800 (33515) OTC-SP-ES-SP-006-015 (33521) OTC-SP-ES-SP-008-013 (33522) OTC-SP-ES-SP-010-022 (33523) OTC-TD-FS-EP-GKS (14762) OTC-TD-FS-SP-013-010 (14763) OTC-DT-OC-SP-032-032-GKS (54772) OTC-DT-OC-EP-GKS (54770) OTC-KS-NV-SP-010-010 (108703) OTC-KS-NV-SP-065-065 (108705) OTC-SP-ES-SP-004-007 (33518) OTC-SP-ES-SP-006-011 (33520) OTC-SP-ES-SP-010-019 (33524) OTC-SP-ES-SP-010-028 (33525) OTC-SP-ES-SP-013-019 (33526) OTC-TD-FS-SP-015-011 (14764) OTC-SP-ES-SP-028-028 (33528)
Qui è possibile configurare facoltativamente una nuova variante:
Dati tecnici
Dati generali
Gruppo di prodotti : opens test
serie : OTC
Tipo : Teradyne OpensTest
Versione : FrameScan FX 2.0
Tipo di accessorio : accessori di ampliamento
Stato di consegna : Elektronikplatte
Larghezza : 9.5 mm
Altezza : 4.9 mm
Peso : 0.01 kg
Temperatura min. : + 10 °C
Temperatura max. : + 60 °C
Conforme a RoHS : RoHS-3
Dati tecnici
Lunghezza : 11.5 mm
Dimensioni esterne (LxPxA) : 9.5 x 11.5 x 4.9 mm
Adatto per
connettori di prova per vuoto (VA) : VA 40xx, VA 20xx
Kit di ricambio WS : WS Teradyne/TSH5x

connettore di prova per vuoto

INGUN SELECTION VA 2070S/i3070-5
connettori di prova per vuoto VA 2070S/i3070-5 Articolo 4844-KIT
  • Connettori di prova per vuoto con cassetta a vuoto a chiusura parallela per testare grandi quantità di PCB
  • Design robusto e di facile manutenzione con una durata di vita eccezionale
  • Disponibile per il sistema di test Keysight i3070
  • Maggiore facilità d'uso senza forze di chiusura significative
  • varianti a 1 e 2 stadi
  • varianti a 1 e 2 stadi
  • Documenti di accompagnamento dettagliati (per esempio schema di ampliamento)
Dettagli del prodotto
VA 2073L/i3070-5
connettori di prova per vuoto VA 2073L/i3070-5 Articolo 8326
  • Connettori di prova per vuoto con cassetta a vuoto a chiusura parallela per testare grandi quantità di PCB
  • Design robusto e di facile manutenzione con una durata di vita eccezionale
  • Connettore di prova singolo con interfaccia del sistema di prova preconfigurata
  • Disponibile per il sistema di test Keysight i3070
  • Maggiore facilità d'uso senza forze di chiusura significative
  • varianti a 1 e 2 stadi
  • Documenti di accompagnamento dettagliati (per esempio schema di ampliamento)
Dettagli del prodotto