nanoVTEP test connettore OTC-KS-NV-SP-155-013 Articolo 108706

  • Componenti per il test Opens per il test capacitivo di chip semiconduttori alla ricerca di guasti, cortocircuiti e difetti di saldatura
  • Adatto a tutti i sistemi di test Keysight 307x con versione software 9.2 o superiore
  • Migliore ripetibilità, copertura dei test e rilevamento dei guasti rispetto alla tecnologia VTEP
Mostra di più Show less

nanoVTEP test connettore OTC-KS-NV-SP-155-013 Articolo 108706

Si prega di effettuare il login per visualizzare il prezzo!
I prezzi elencati nella scaletta sono arrotondati, sono quindi possibili deviazioni nel prezzo totale. Spese di spedizione * I prezzi sono arrotondati a 2 cifre decimali.
Download
Dichiarazione di conformità RoHS (EN|PDF)
Scheda tecnica del prodotto (IT|pdf)
Dati CAD (INGUN_108706.STEP)
Documento (INFO_4250.PDF)
Documento (Keysight-nanoVTEP_XReferenz_DE_EN_2.0.pdf)
Documento (108706__Kundenzeichnung.PDF)
Selezionare la variante
OTC-KS-NV-SP-155-013 (108706)
OTC-DT-OC-SP-163-102 (18747) OTC-KS-NV-SP-004-004 (108701) OTC-KS-NV-SP-007-004 (108702) OTC-KS-NV-SP-031-031 (108704) OTC-SP-ES-EP-L300 (33512) OTC-SP-ES-EP-L400 (33513) OTC-SP-ES-EP-L600 (33514) OTC-SP-ES-SP-005-009 (33519) OTC-TD-FX-EP (26486) OTC-SP-ES-SP-014-020 (33527) OTC-SP-ES-SP-035-035 (33529) OTC-KS-NV-KS-G2 (114374) OTC-KS-NV-ST-G2 (114373) OTC-DT-OC-EP (18746) OTC-KS-NV-EP (108707) OTC-KS-NV-GKS (111606) OTC-KS-NV-SP-155-013 (108706) OTC-SP-ES-EP-L800 (33515) OTC-SP-ES-SP-006-015 (33521) OTC-SP-ES-SP-008-013 (33522) OTC-SP-ES-SP-010-022 (33523) OTC-TD-FS-EP-GKS (14762) OTC-TD-FS-SP-013-010 (14763) OTC-KS-NV-EP-ST-KS-G2 (114385) OTC-DT-OC-SP-032-032-GKS (54772) OTC-SP-ES-SP-028-028 (33528) OTC-DT-OC-EP-GKS (54770) OTC-KS-NV-SP-010-010 (108703) OTC-KS-NV-SP-065-065 (108705) OTC-SP-ES-SP-004-007 (33518) OTC-SP-ES-SP-006-011 (33520) OTC-SP-ES-SP-010-019 (33524) OTC-SP-ES-SP-010-028 (33525) OTC-SP-ES-SP-013-019 (33526) OTC-TD-FS-SP-015-011 (14764)
Qui è possibile configurare facoltativamente una nuova variante:
Dati tecnici
Dati generali
Gruppo di prodotti : opens test
serie : OTC
Tipo : Test vettoriale Keysight
Versione : nanoVTEP SP connettore
Tipo di accessorio : accessori di ampliamento
Stato di consegna : Senza amplificatore nanoVTEP
Larghezza : 12.8 mm
Altezza : 3.7 mm
Temperatura min. : + 10 °C
Temperatura max. : + 60 °C
Conforme a RoHS : RoHS-3
Dati tecnici
Lunghezza : 155 mm
Dimensioni esterne (LxPxA) : 155.0 x 12.8 x 3.7 mm
Adatto per
connettori di prova per vuoto (VA) : VA 3070S/L, VA 2070S/L
Kit di ricambio WS : WS Keysight

connettore di prova per vuoto

INGUN SELECTION VA 2070S/i3070-5
connettori di prova per vuoto VA 2070S/i3070-5 Articolo 4844-KIT
  • Connettori di prova per vuoto con cassetta a vuoto a chiusura parallela per testare grandi quantità di PCB
  • Design robusto e di facile manutenzione con una durata di vita eccezionale
  • Disponibile per il sistema di test Keysight i3070
  • Maggiore facilità d'uso senza forze di chiusura significative
  • varianti a 1 e 2 stadi
  • varianti a 1 e 2 stadi
  • Documenti di accompagnamento dettagliati (per esempio schema di ampliamento)
Dettagli del prodotto