nanoVTEP amplificatore OTC-KS-NV-EP Articolo 108707

  • Componenti per il test Opens per il test capacitivo di chip semiconduttori alla ricerca di guasti, cortocircuiti e difetti di saldatura
  • Adatto a tutti i sistemi di test Keysight 307x con versione software 9.2 o superiore
  • Migliore ripetibilità, copertura dei test e rilevamento dei guasti rispetto alla tecnologia VTEP
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nanoVTEP amplificatore OTC-KS-NV-EP Articolo 108707

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Dichiarazione di conformità RoHS (EN|PDF)
Documento (INFO_4250.PDF)
Documento (Keysight-nanoVTEP_XReferenz_DE_EN_2.0.pdf)
Dati CAD (INGUN_108707.STEP)
Documento (108707__Kundenzeichnung.PDF)
Scheda tecnica del prodotto (IT|pdf)
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OTC-KS-NV-EP (108707)
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Qui è possibile configurare facoltativamente una nuova variante:
Dati tecnici
Dati generali
Gruppo di prodotti : opens test
serie : OTC
Tipo : Test vettoriale Keysight
Versione : nanoVTEP amplificatore
Tipo di accessorio : accessori di ampliamento
Temperatura min. : + 10 °C
Temperatura max. : + 60 °C
Conforme a RoHS : RoHS-3
Dati tecnici
Lunghezza : 17.4 mm
Diametro : 4.0 mm
Adatto per
connettori di prova per vuoto (VA) : VA 3070S/L, VA 2070S/L
Kit di ricambio WS : WS Keysight

connettore di prova per vuoto

INGUN SELECTION VA 2070S/i3070-5
connettori di prova per vuoto VA 2070S/i3070-5 Articolo 4844-KIT
  • Connettori di prova per vuoto con cassetta a vuoto a chiusura parallela per testare grandi quantità di PCB
  • Design robusto e di facile manutenzione con una durata di vita eccezionale
  • Disponibile per il sistema di test Keysight i3070
  • Maggiore facilità d'uso senza forze di chiusura significative
  • varianti a 1 e 2 stadi
  • varianti a 1 e 2 stadi
  • Documenti di accompagnamento dettagliati (per esempio schema di ampliamento)
Dettagli del prodotto