En el In-Circuit-Test (ICT) se miden todos los componentes de un grupo. Al mismo tiempo se detectan componentes defectuosos, y se pueden cambiar si se requiere. El test de funcionamiento (FCT) revisa el funcionamiento al 100% de un grupo de componentes. Correspondiendo al área de utilización posterior, se hace una imitación del entorno, y se prueba el comportamiento eléctrico del grupo de componentes.
Para cumplir de manera óptima la tarea de contacto están disponibles una enorme cantidad de puntas de prueba. Estos se distinguen por su altura de montaje, medida de la rejilla (posible distancia de perno a perno), forma del cabezal y tipo de conexión. La conexión eléctrica se realiza frecuentemente a través de una cavidad de soldadura, un envoltorio de alambre (wire wrap) y con o sin cable. Dependiendo del grupo de componentes a conectar (placa de circuitos impresos) y las condiciones del entorno, INGUN ofrece diferentes puntas de prueba.
- Nivel prueba de funcionamiento
- Nivel Incircuit Test
- Puntas de prueba con resorte estándar: contacto estándar PIN y PAD
- Puntas de prueba con resorte de carrera larga: contacto de dos niveles
- Receptáculos inalámbricos: conexión sin cables
- Puntas de prueba con resorte cortos: menor necesidad de espacio
- Tipo E® de INGUN: contacto con superficies sucias
- Nivel prueba de funcionamiento
- Nivel Incircuit Test
- Puntas de prueba giratorias: contacto con superficies sucias
- Bead Probe: contacto de Beads of printed circuit board (placa de circuitos impresos)
- Fin pitch: rejilla pequeña
- Estándar métrico: puntas de prueba con resorte robustas para uso rudo
Conectores con resorte según estándar internacional
Las puntas de prueba con resorte estándar sin cuello han probado su efectividad por millones para ICT y FCT. Dependiendo de la carrera de trabajo de la mesa de prueba o de los componentes que se deben conectar y los puntos de prueba, se requieren diferentes alturas de montaje. Estas se alcanzan mediante la combinación de la punta de prueba y el receptáculo. Solo así puede realizarse la carrera de trabajo óptima con la fuerza elástica nominal.
Puntas de contacto Carrera larga
Además del modelo con carrera de trabajo estándar (4.3 mm), también existen puntas de prueba con resorte con carrera de trabajo larga (9.3 mm), que permiten una combinación de ICT y FCT en una mesa de dos niveles. De ser necesario, las señales se transmiten con receptáculos inalámbricos a través de un pistón con resorte a un placa de circuitos impresos de transferencia; de esta manera se elimina el cableado.
Puntas de prueba con resorte cortas y robustas
Las puntas de prueba con resorte cortas y robustas se distinguen por un diseño robusto y compacto. Por ello estas puntas de prueba con resorte son adecuadas para aplicaciones rudas de ICT/FCT con reducidas condiciones de espacio, así como también en tramas mayores.
INGUN E-TYPE®
Las puntas de prueba de la marca INGUN E-TYPE® poseen una precarga mayor que las puntas de prueba con resorte estándar. Esta fuerza elástica inicialmente mayor garantiza un contacto seguro en el proceso de prueba, y con una carga final igual, es decir, la misma fuerza elástica en la carrera de trabajo como las puntas de prueba con resorte estándar.
Puntas de contacto con cabeza giratoria
Si surgen problemas de contacto, las puntas de prueba giratorias pueden representar una alternativa segura. Mediante un movimiento giratorio durante el proceso de carrera, se raspa la superficie de contacto: así se penetran de manera segura las capas aislantes, como gruesas capas de suciedad o aluminio anodizado.
Bead Probe GKS
Las puntas de prueba con resorte llamadas Bead Probe se utilizan para conectar beads (perlas de soldadura) en las tarjetas PCB. Al respecto están disponibles diversas formas de cabezal, para poder probar de forma óptima las beads según su geometría, composición y superficie.
Finepitch GKS
Con las puntas de prueba con resorte Finepitch se pueden contactar puntos de prueba en una pequeña reja. En parte, estos se montan sin receptáculos.
Puntas de prueba con resorte métricas
Las puntas de prueba con resorte métricas (puntas de prueba con resorte según el estándar métrico) complementan a las puntas de prueba clásicas ICT/FCT sin cuello. Se distinguen por su gran estabilidad y robustez, y todos muestran un cuello destacado.
INGUN S-Line
La Serie Socketless permite realizar pruebas sin casquillo de contacto. Como resultado, las puntas de prueba S-Line disponen de un diámetro mayor en la rejilla usual y son mecánicamente más estables.
- Puntas de prueba probadas por millones para conectar tarjetas PCB
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados.
- Diversas fuerzas del resorte disponibles, así como variantes con resortes de acero inoxidable para altas temperaturas
- Para ajustar las proporciones de carrera óptimas en la fixtura pueden realizarse diferentes alturas de montaje a través de la combinación de la punta de prueba con el receptáculo
- Puntas de prueba robustas y estables con cuello marcado (tope) en el casquillo del perno
- Ajuste óptimo de las proporciones de carrera en la mesa de prueba: El cuello (medida E) está disponible en diferentes alturas, lo cual en combinación con los receptáculos permite una máxima flexibilidad de la altura de montaje
- Variante enrollada en el centro con poco juego, para conectar puntos de prueba pequeños
- Están disponibles variantes con resorte de acero inoxidable para temperaturas de -100 °C hasta +200 °C
- Punta de contacto de carrera larga para realizar pruebas combinadas ICT y FCT en un adaptador de dos niveles
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
- Para ajustar las proporciones de carrera óptimas en la fixtura pueden realizarse diferentes alturas de montaje a través de la combinación de la punta de prueba con el receptáculo
- La más alta seguridad de contacto en condiciones de prueba difíciles, sin sobrecargar adicionalmente la pieza de prueba: superficie de contacto hasta 25% mayor entre el conector y la pieza de prueba
- Al llegar a la superficie de prueba está disponible una fuerza del resorte hasta 100% mayor, pero en la carrera de trabajo está disponible la misma fuerza del resorte como en una punta de prueba con resorte estándar.
- Completamente compatible con las series estándar de puntas de prueba con resorte
- Puntas de prueba probadas por millones para conectar tarjetas PCB
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados.
- Diversas fuerzas del resorte disponibles, así como variantes con resortes de acero inoxidable para altas temperaturas
- Para ajustar las proporciones de carrera óptimas en la fixtura pueden realizarse diferentes alturas de montaje a través de la combinación de la punta de prueba con el receptáculo
- Puntas de prueba atornilladas para aplicaciones con posibles vibraciones o fuerzas transversales o longitudinales no deseadas (con lo que se evita de manera segura que la punta de prueba se salga del receptáculo)
- Mediante un destornillador con par de torsión y una herramienta con puntas de destornillador, el conector atornillado se instala con seguridad en el conector. El par de torsión de atornillado necesario se ajusta mediante un tornillo cuadrado en el casquillo del perno.
- Están disponibles variantes con resorte de acero inoxidable para temperaturas de -100 °C hasta +200 °C
- Diseño robusto y compacto para aplicaciones pesadas ICT/FCT en espacios reducidos
- Para un contacto óptimo en los puntos de prueba (p. ej. PADs, VIAs, y PINs) están disponibles diferentes formas de cabezal en diferentes diámetros y terminados. Asimismo, están disponibles diversas fuerzas del resorte.
- Puntas de prueba probadas por millones para conectar tarjetas PCB