Procedimiento de prueba
Al realizar pruebas con grupos de componentes electrónicos se distingue entre diferentes procedimientos de prueba, que según la profundidad de la densidad de prueba o las características de la pieza de prueba, se realizan de manera individual o combinados unos con otros. Se distingue entre la prueba de funcionamiento (FKT), la prueba In-Circuit (ICT), la Boundary Scan (exploración de límites) y el Opens Test.