NanoVTEP G2 SingleProbe 0.4" OTU-KS-NV-010-010-G2 Artículo 114386
- Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
- Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP
NanoVTEP G2 SingleProbe 0.4" OTU-KS-NV-010-010-G2 Artículo 114386
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OTU-KS-NV-010-010-G2 (114386)
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Datos técnicos
Grupo de productos : | Opens Test |
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Serie : | OTU |
Tipo : | Prueba sin vectores Keysight |
Modelo : | nanoVTEP Gen2 SP 0.4 pulgadas |
Tipo de accesorios : | Accesorios de ampliación |
Estado de entrega : | Incluye nanoVTEP Gen2 |
Ancho : | 10.5 mm |
Altura : | 48.7 mm |
Temperatura mín. : | + 10 °C |
Temperatura máx. : | + 60 °C |
Conforme RoHS : | RoHS-3 |
Carrera : | 4 mm |
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Longitud : | 10.5 mm |
Dimensiones exteriores (AnxPxAl) : | 10.5 x 10.5 x 48.7 mm |
Mesas de prueba de vacío (VA) : | VA 3070S/L, VA 2070S/L |
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Juegos de recambio (WS) : | WS Keysight |