NanoVTEP G2 SingleProbe B/C OTU-KS-NV-007-004-G2 Artículo 114388

  • Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
  • Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
  • Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP
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NanoVTEP G2 SingleProbe B/C OTU-KS-NV-007-004-G2 Artículo 114388

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Descargas
Confirmación de la conformidad RoHS (EN|PDF)
Documento (114388__Kundenzeichnung.PDF)
Ficha técnica del producto (ES|pdf)
Datos CAD (INGUN_114388.STEP)
Documento (INFO_4250.PDF)
Documento (Keysight-nanoVTEP_XReferenz_DE_EN_2.0.pdf)
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OTU-KS-NV-007-004-G2 (114388)
OTU-KS-NV-155-013 (109706) OTU-KS-NV-010-010-G2 (114386) OTU-KS-NV-004-004-G2 (114387) OTU-SP-ES-028-028-L300 (32630) OTU-KS-NV-031-031 (109704) OTU-KS-NV-065-065 (109705) OTU-KS-NV-007-004-G2 (114388) OTU-DT-OC-160-100 (18748) OTU-TD-FX-CS-008-005 (19644) OTU-TD-FX-CS-007-004 (19643) TTC-SP-NTC-SP-010-010-GKS-KS14 (60291)
Aquí puede configurar opcionalmente una nueva variante:
Datos técnicos
Datos generales
Grupo de productos : Opens Test
Serie : OTU
Tipo : Prueba sin vectores Keysight
Modelo : nanoVTEP Gen2 SP Tamaño B/C
Tipo de accesorios : Accesorios de ampliación
Estado de entrega : Incluye nanoVTEP Gen2
Ancho : 4 mm
Altura : 48.7 mm
Temperatura mín. : + 10 °C
Temperatura máx. : + 60 °C
Conforme RoHS : RoHS-3
Datos técnicos
Carrera : 4 mm
Longitud : 7 mm
Dimensiones exteriores (AnxPxAl) : 7.0 x 4.0 x 48.7 mm
Compatible con
Mesas de prueba de vacío (VA) : VA 3070S/L, VA 2070S/L
Juegos de recambio (WS) : WS Keysight