NanoVTEP G2 SingleProbe 0.16" OTU-KS-NV-004-004-G2 Artículo 114387
- Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
- Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP
NanoVTEP G2 SingleProbe 0.16" OTU-KS-NV-004-004-G2 Artículo 114387
¡Por favor regístrese para mostrar el precio!
Iniciar sesión
Los precios enumerados en la escala se muestran redondeados, por eso son posibles desviaciones en el precio total.
envío aplicables
* Los precios se redondean con dos decimales.
Seleccionar variante
OTU-KS-NV-004-004-G2 (114387)
Aquí puede configurar opcionalmente una nueva variante:
Datos técnicos
| Grupo de productos : | Opens Test |
|---|---|
| Serie : | OTU |
| Tipo : | Prueba sin vectores Keysight |
| Modelo : | nanoVTEP Gen2 SP 0.16 pulgadas |
| Tipo de accesorios : | Accesorios de ampliación |
| Estado de entrega : | Incluye nanoVTEP Gen2 |
| Ancho : | 4 mm |
| Altura : | 48.7 mm |
| Temperatura mín. : | + 10 °C |
| Temperatura máx. : | + 60 °C |
| Conforme RoHS : | RoHS-3 |
| Carrera : | 4 mm |
|---|---|
| Longitud : | 4 mm |
| Dimensiones exteriores (AnxPxAl) : | 4.0 x 4.0 x 48.7 mm |
| Mesas de prueba de vacío (VA) : | VA 3070S/L, VA 2070S/L |
|---|---|
| Juegos de recambio (WS) : | WS Keysight |