NanoVTEP G2 SingleProbe 0.16" OTU-KS-NV-004-004-G2 Artículo 114387

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  • Grupos de componentes probados para los opens tests, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
  • Adecuados para sistemas de prueba Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) y Spea (Escan)
  • Montaje sencillo y rápido
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NanoVTEP G2 SingleProbe 0.16" OTU-KS-NV-004-004-G2 Artículo 114387

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Ficha técnica del producto (ES|pdf)
Documento (114387__Kundenzeichnung.PDF)
Datos CAD (INGUN_114387.STEP)
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OTU-KS-NV-004-004-G2 (114387)
OTU-TD-FX-CS-008-005 (19644) OTU-KS-NV-031-031 (109704) OTU-KS-NV-155-013 (109706) OTU-KS-NV-010-010-G2 (114386) OTU-TS-OE-032-032 (54773) OTU-TD-FS-065-065 (54774) OTU-SP-ES-028-028-L300 (32630) OTU-TD-FX-CS-007-004 (19643) OTU-TD-FS-032-032 (54775) OTU-DT-OC-160-100 (18748) OTU-KS-NV-004-004-G2 (114387) OTU-KS-NV-007-004-G2 (114388) OTU-TD-FS-013-010 (54777) OTU-TD-FS-159-013 (54776) OTU-KS-NV-065-065 (109705) TTC-SP-NTC-SP-010-010-GKS-KS14 (60291) OTU-TD-FX-032-032 (54778)
Aquí puede configurar opcionalmente una nueva variante:
Datos técnicos
Datos generales
Grupo de productos : Opens Test
Serie : OTU
Tipo : Keysight
Modelo : nanoVTEP Gen2 SP 0.16 pulgadas
Tipo de accesorios : Accesorios de ampliación
Estado de entrega : Incluye nanoVTEP Gen2
Ancho : 4 mm
Altura : 48.7 mm
Temperatura mín. : + 10 °C
Temperatura máx. : + 60 °C
Conforme RoHS : RoHS-3
Datos técnicos
Carrera : 4 mm
Longitud : 4 mm
Dimensiones exteriores (AnxPxAl) : 4.0 x 4.0 x 48.7 mm
Compatible con
Mesas de prueba de vacío (VA) : VA 2070S, VA 2073L
Juegos de recambio (WS) : WS Keysight