NanoVTEP Gen 2 receptacle OTC-KS-NV-KS-G2 Artículo 114374

  • Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
  • Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
  • Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP
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NanoVTEP Gen 2 receptacle OTC-KS-NV-KS-G2 Artículo 114374

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Descargas
Confirmación de la conformidad RoHS (EN|PDF)
Datos CAD (INGUN_114374.STEP)
Ficha técnica del producto (ES|pdf)
Documento (INFO_4250.PDF)
Documento (Keysight-nanoVTEP_XReferenz_DE_EN_2.0.pdf)
Documento (114374__Kundenzeichnung.PDF)
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Aquí puede configurar opcionalmente una nueva variante:
Datos técnicos
Datos generales
Grupo de productos : Opens Test
Serie : OTC
Tipo : Prueba sin vectores Keysight
Modelo : nanoVTEP Casquillo de contacto Gen2
Tipo de accesorios : Accesorios de ampliación
Temperatura mín. : + 10 °C
Temperatura máx. : + 60 °C
Conforme RoHS : RoHS-3
Datos técnicos
Longitud : 33.8 mm
Diámetro : 5.5 mm
Compatible con
Mesas de prueba de vacío (VA) : VA 3070S/L, VA 2070S/L
Juegos de recambio (WS) : WS Keysight